Картина - муар
Cтраница 4
На фото 31, а показана сетка дислокаций в графите, а на фото 31 6 - соответствующая ей картина муара. Расстояние между контурами на картине муара равно половине размера ячейки дислокационной сетки. [46]
На фото 30, б представлена, например, картина муара, на которой видны два дополнительных полуконтура. Поэтому краевая дислокация на картине муара не обязательно соответствует краевой дислокации в кристаллической решетке. [47]
Они располагаются около рефлексов первичной дифракции, как указано на рис. 123, б и 1ЙЗ, в, но не влияют на окончательную картину муара, так как отрезаются апертурной диафрагмой. Таким образом, в образовании картин муара при наблюдении в светлом поле принимают участие лишь дважды продифрагировавшие лучи, такие как S, и неотклоненный луч нулевого порядка. [48]
И действительно, многие из наблюдавшихся картин муара создаются такими границами, а не двумя отдельными наложенными друг на друга кристаллами. Расстояние между соседними винтовыми дислокациями в такой границе определяется формулой Dj b / Q, где b - вектор Бюргер-са и 6 - угол скручивания. [49]
 |
Крепление зеркального объектива [ IMAGE ] Крепление объектива коллиматора камеры спектрографа ИСП-28. [50] |
Измерение величины / можно делать с помощью двух прозрачных дифракционных решеток, установленных одна за другой с параллельным направлением штрихов. При прохождении света через эти решетки возникает картина муара, представляющая собой чередование светлых и темных полос. При перемещении одной решетки относительно другой получается чередование света и тени. Полосы фиксируются фотоэлектрическим приемником. Если, например, решетки имеют 1200 turn / мм, то это перемещение будет соответствовать 0 83 мкм. Возникающие в приемнике импульсы тока могут подаваться в счетное устройство, которое обеспечит поворот рабочей дифракционной решетки на заданный угол для выведения на выходную щель нужной длины волны. [51]
 |
Снимки муара, полученные в интерферометре. [52] |
В работах В. Ф. Миускова эффекты муара систематически используются в рентгеновской топографии реальных кристаллов. На рис. 96, а приведена рентгенограмма картин муара от бездислокационного кристалла кремния повышенной чистоты, полученная в трехкристальном интерферометре. [53]
Связь расстояния между такими контурами с расстоянием между дислокациями будет простая - при dhh [ b они равны. В этом случае также бывает трудно отличить контуры картины муара от изображений дислокаций. [54]
ЬЬ - соответствующие границы зон Бриллюэна. Как показали экспериментально Бассет и др. [546], контуры картины муара возникают в результате интерференции прямого прошедшего пучка с дважды дифрагированным пучком. Рассмотрим этот процесс двойной дифракции. [55]
Из приведенных соотношений следует, что коэффициенты увеличения картин муара при малых е или rf, - d2 могут быть значительно больше единицы. Таким образом, путем соответствующего подбора двух решеток можно получить на картине муара D большее, чем значение 60 разрешающего расстояния микроскопа и, следовательно, косвенным путем разрешить атомно-кристаллическое строение кристалла. [56]
 |
Схема двухкристалыюго интерферометра. [57] |
В интерферометрах, изготовленных из одного монокристаллического блока, помимо решения задачи рекомбинации когерентных пучков, обеспечивается механическая и тепловая стабильность. Однако при использовании интерферометрического метода изучения и контроля совершенства структуры с помощью картин муара представляет интерес создание прибора из двух независимых частей, одна из которых является данным образцом. Подобный прибор важен также при точных измерениях длин и параметров с помощью трансляционного муара. Са снабжается механизмом с тремя взаимно перпендикулярными поворотами. Интерферометр рассчитан для отражения 220 Си Ка от Si. [58]
Страницы: 1 2 3 4