Теневая картина
Cтраница 2
Прибор дает возможность наблюдать и фотографировать теневую картину, производить съемку теневой картины киноаппаратом, проектировать и рассматривать теневую картину на экране, а также съемку быстрых процессов при помощи лупы времени и кадров большого размера, аэрофотокамерой и другими аппаратами. [16]
Освещая исследуемый поток проходящим светом от точечного источника, можно наблюдать на экране теневую картину течения, которая поддается по крайней мере качественной расшифровке. [17]
Сделанные здесь нами замечания возможно несколько субъективны и далеко не исчерпывают возможности дальнейшего анализа теневых картин. [18]
В общем случае может быть бесчисленное множество положений сфер сравнения и ножа, следовательно, и теневых картин ( типов теневого рельефа) будет очень много. Чтобы уменьшить их количество, выбирают наиболее специфичные сферы сравнения: ближайшую ( / - /) или имеющую ту же кривизну, что и волновой фронт в своей вершине. [19]
И - окуляр-для рассматривания изображениям / Я - зужало; 13 - полупрозрачное зеркало для наблюдения и фотографирования теневой картины; 14 и 15-линзы для изменения масштаба изображения; 16 - матовое стекло. [20]
Прибор дает возможность наблюдать и фотографировать теневую картину, производить съемку теневой картины киноаппаратом, проектировать и рассматривать теневую картину на экране, а также съемку быстрых процессов при помощи лупы времени и кадров большого размера, аэрофотокамерой и другими аппаратами. [21]
В приведенной схеме лучи от источника света собираются в точке N, а в плоскости ff получается изображение модели и теневой картины. [22]
Работа проводится на сверхзвуковой аэродинамической трубе, оснащенной однокомпонентными весами для измерения силы сопротивления и оптической установкой, позволяющей получать теневую картину обтекания тел. [23]
На рис. 2.6 представлено сравнение расчетной и измеренной временной формы импульса того же излучателя в заданной точке пространства, отмеченной крестиком на теневой картине рис. 2.5. Эти иллюстрации показывают, что по мере удаления от оси исходный импульс может трансформироваться в два ( а иногда и более) раздельных импульса. Можно показать как на качественном уровне, так и аналитически, что эти импульсы соответствуют: а) плоской волне, которая распространяется в перпендикулярном к поверхности излучателя направлении и имеет неизменную амплитуду вплоть до бесконечности, и б) волне, излучаемой краем или периферией источника в про-тивофазе с плоской волной. Показана плоская волна кругового сечения, за которой следует краевая или периферическая волна тороидальной формы. [25]
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 5 4iim а для канавочного или пластинчатого эталона § min, где cfmjn - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Amjn - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [26]
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 8 dmn, а для канавочного или пластинчатого эталона 8 Ami где с /, - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Атщ - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [27]
Анализ результатов ( снимков) показал, что для просвечивания снимков РТЛ с целью достижения оптимальной экспозиции активность первого радионуклида должна быть в 2 - 3 раза больше, чем использовалась, и что предпочтительно низкоэнергетическое гамма-излучение, дающее более четкую теневую картину и требующее меньшую толщину радиационной защиты, в результате чего облегчается конструкция дефектоскопа, соответственно транспортировка и работа в условиях шахт. Однако малая активность выпускаемых источников с радионуклидом Америций-241 и очень высокая их стоимость не позволяют широко использовать их для дефектоскопии стыковых соединений РТЛ. Можно также применять источники с радионуклидами Тулий-170 и Селен-75, имеющих небольшой период полураспада, что вызывает необходимость частой их смены и создает дополнительные трудности в работе. [28]
Абсолютную чувствительность контроля ( б) определяют при использовании проволочного эталона как б rfmln, а для канавочного или пластинчатого эталона б hm [ n ( ГОСТ 7512 - 82), где dmlu - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; A mm - ГЛУ бина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении - теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [29]
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 5 4iim а для канавочного или пластинчатого эталона § min, где cfmjn - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Amjn - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [30]
Страницы: 1 2 3 4