Cтраница 3
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 8 dmn, а для канавочного или пластинчатого эталона 8 Ami где с /, - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Атщ - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [31]
Абсолютную чувствительность контроля ( б) определяют при использовании проволочного эталона как б rfmln, а для канавочного или пластинчатого эталона б hm [ n ( ГОСТ 7512 - 82), где dmlu - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; A mm - ГЛУ бина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении - теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [32]
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 5 4iim а для канавочного или пластинчатого эталона § min, где cfmjn - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Amjn - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [33]
Абсолютную чувствительность контроля 8 определяют при использовании проволочного эталона как 8 dmn, а для канавочного или пластинчатого эталона 8 Ami где с /, - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; Атщ - глубина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [34]
Абсолютную чувствительность контроля ( б) определяют при использовании проволочного эталона как б rfmln, а для канавочного или пластинчатого эталона б hm [ n ( ГОСТ 7512 - 82), где dmlu - диаметр наименьшей видимой в световом изображении теневой картины проволоки проволочного эталона; A mm - ГЛУ бина наименьшей видимой в световом изображении теневой картины канавки канавочного эталона или наименьшая толщина пластинчатого эталона, при которой видна в световом изображении - теневая картина отверстия эталона, диаметр которой равен удвоенной толщине эталона. [35]
![]() |
Схема восстановления голограммы. [36] |
Схема восстановления голограммы, представленная на рис. 11.17, дает в плоскости х прямотеневую картину исследуемой неоднородности. Теневая картина может быть получена на установке, схема которой показана на рис. 11.18. В качестве источника света 1 в установке может быть использована ртутная лампа. [37]
Неточность вычерчивания контурного чертежа при тщательном его выполнении ( лучше всего на цинковой пластине) составляет 100 мк. При использовании теневой картины отклонения в 300 - 500 мк определяются еще довольно точно; при увеличении 50: 1 это составляет погрешность порядка 10 мк. [38]
![]() |
Оптическая схема соединения приборов ИАБ-451 и СФР-2. [39] |
В нашем случае на плоскость ножа Фуко проектируется переходной системой четырехугольное световое отверстие диафрагмы, следовательно, в плоскость Фуко вводится дополнительный двойной нож. Чтобы он не влиял на теневую картину, необходимо чтобы кромка ножа Фуко и все изображения источника света, отклоненные и неотклоненные, лежали внутри отверстия двойного ножа. [40]
Распределение измененных местных величин числа Стентона при различных интенсивностях вдува и положениях падающего скачка относительно проницаемого участка представлено на фиг. Сопоставление распределения температуры измерительного участка и теневой картины течения показало что максимальное увеличение теплоотдачи соответствует области присоединения пограничного слоя. [41]
Пример работы в проходящем свете; на экране видна теневая картина контроле руемого изделия. [42]
![]() |
Дифракция ударной волны на тонкой пластине при дозвуковой скорости спутного потока. [43] |
О перемещается со скоростью спутного потока. Приняв это предположение, легко получить связь между геометрическими характеристиками теневой картины и параметрами газа. [44]
На контролируемую поверхность направляют пучок света, на пути которого вблизи поверхности ( чтобы избежать существенного рассеяния лучей, вызванного конечными размерами источника света) располагают экран с прямолинейными краями. Границу тени при отражении светового пучка от поверхности, представляющую собой теневую картину профиля обследуемого участка поверхности, рассматривают через микроскоп. [45]