Рентгеновская дифракционная картина

Cтраница 1

Изменение плотности, длины и образование дефектов в а - А1203, облученной потоком быстрых нейтронов.| Теплопроводность синтетического сапфира до и после облучения нейтронами.| Зависимость теплового сопротивления от облучения быстрыми нейтронами. [1]

Рентгеновская дифракционная картина после облучения остается отчетливой. [2]

Рентгеновские дифракционные картины, являющиеся отражением упорядоченного расположения атомов в кристаллах, сами в свою очередь характеризуются определенной регулярностью и симметрией. Тяжелые атомы с высокой электронной плотностью сильнее рассеивают рентгеновские лучи, чем легкие атомы. [3]

Рентгеновская дифракционная картина обоих полимеров существенно не изменяется до 500 С. При 600 С кристаллическая укладка звеньев молекул нарушается и увеличиваются межмолекулярные расстояния. Однако еще сохраняется высокая упорядоченность в их относительном расположении. Существенные изменения происходят при температурах, близких к 800 С. [4]

Рентгенограмма для монокристалла ( а, рентгенограмма. [5]

Рентгеновские дифракционные картины очень сложны, так как кристалл представляет собой трехмерный объект, и рентгеновские лучи могут дифрагировать на различных плоскостях под разными углами. [6]

Рентгеновская дифракционная картина отражает состояние решетки в объеме образца, так как глубина проникновения рентгеновских лучей колеблется в зависимости от природы образца и излучения от сотых до десятых долей миллиметра, а разм-еры элементарной ячейки, как правило, порядка нескольких ангстрем или десятков ангстрем. Поэтому дифракционная картина поверхностного слоя практически полностью затемняется картиной от объема. В катализе, как известно, существенную роль играет как раз состояние поверхностного слоя катализаторов. Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [13-14], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. [7]

Рентгеновская дифракционная картина михаловецкого галлуазита ( см. рис. 6) свидетельствует о некотором несовершенстве его кристаллической структуры. Однако природа несовершенства галлуазита и каолинита с неупорядоченной структурой различна. [8]

Изменения рентгеновской дифракционной картины при охлаждении с разной скоростью ( см. рис. 2) согласуются с этим представлением. [9]

Анализ рентгеновских дифракционных картин в случае жидкостей выполняется аналогично анализу кристаллов, за исключением того, что в первом случае нельзя сделать никаких допущений о повторяющейся системе симметрии. Результаты такого анализа дифракционных картин, изображенных на рис. 34.1, приведены на рис. 34.2 в форме кривых распределения относительных вероятностей. Горизонтальная кривая с W вычислена для совершенно аморфной системы, в которой вероятность нахождения центра ( ядра) атома ртути одинакова на любом расстоянии от какого-либо заданного атома. Волнистые кривые изображают действительное распределение вероятностей для жидкой ртути при различных температурах. Аналогичный характер имеют кривые для всех исследованных жидкостей. [10]

Анализ рентгеновских дифракционных картин в случае жидкостей выполняется аналогично анализу кристаллов, за исключением того, что в первом случае нельзя сделать никаких допущений о повторяющейся системе симметрии. Результаты такого анализа дифракционных картин, изображенных на рис. 34.1, приведены на рис. 34.2 в форме кривых распределения относительных вероятностей. Горизонтальная кривая с Wl вычислена для совершенно аморфной системы, в которой вероятность нахождения центра ( ядра) атома ртути одинакова на любом расстоянии от какого-либо заданного атома. Волнистые кривые изображают действительное распределение вероятностей для жидкой ртути при различных температурах. Аналогичный характер имеют кривые для всех исследованных жидкостей. [11]

Представляет интерес моделирование рентгеновской дифракционной картины нанокристаллических материалов [78-81] с учетом размера зерна, искажений кристаллической решетки, толщины и структуры границ раздела. Моделирование было выполнено с применением кинематической теории рассеяния рентгеновского излучения. [12]

Рентгенограм-ма, снятая с мопокрис-чистого алюми - ], применении метода Лауэ. [13]

На рис. 5 показана рентгеновская дифракционная картина чистого алюминия. Рентгеновский луч был направлен при съемке перпендикулярно плоскости куба кристалла. [14]

Особый интерес для нас имеет симметрия рентгеновских дифракционных картин. [15]

Страницы: 1 2 3 4