Рентгеновская дифракционная картина
Cтраница 2
Толщина слоя, участвующего в формировании рентгеновской дифракционной картины, для стали составляет десятки микрометров. В ряде случаев, например при фазовом анализе в камере РКД, наиболее целесообразно использовать образцы в виде порошка, который наклеивают обычно цапон-лаком на тонкую стеклянную нить или набивают в капилляр, например из коллодия. В схемах съемки от шлифа ( камера КРОС, дифрактометр) порошком заполняется путем прессования со связкой или без связки специальная кювета. Наклеп от напиливания, сверления или дробления и истирания в ступке снимают отжигом. [16]
Атомная структура кристаллитов была выявлена при анализе рентгеновской дифракционной картины. Кристаллит состоит из нескольких слоев атомов углерода, образующих смещенную ( искаженную) гексагональную решетку. Искажение кристаллической решетки обусловлено присутствием остаточного водорода. Однако плоскости не расположены параллельно, как в случае графита. [17]
Кларк и Муус теоретически285 и экспериментально286 изучили влияние на рентгеновскую дифракционную картину различных нарушений порядка в кристаллической решетке, образованной макромолекулами со спиральной конформацией. Они показали286, что переход в ПТФЭ при 19 С заключается в изменении типа элементарной ячейки от триклинной к гексагональной вследствие изменения конформации цепи и возникновения колебаний вокруг оси цепи, приводящих к небольшому скручиванию и раскручиванию молекулы ПТФЭ. [18]
На рис. 11 в и г приведен яркий пример изменения рентгеновской дифракционной картины, вызванного образованием волокна. [19]
Анализы эыли проведены на рентгеновском дифрактометре ДРОН-1, который позволяет получать рентгеновские дифракционные картины высокого качества. [20]
 |
Изменение профиля и физического уширения линии 211 стали 08Ю при дорекристаллизаци-онном нагреве ( т1 ч после прокатки с обжатием 75 %. [21] |
Наиболее чувствительными методами изучения возврата являются измерение физических свойств ( особенно электропроводности) и наблюдение рентгеновской дифракционной картины. Физическое уширение р с ростом температуры изохронного отжига вначале не изменяется, затем падает, достигая почти нулевого значения еще до начала рекристаллизации. [22]
Когда впервые была высказана гипотеза об а-спирали, соответствие теоретически рассчитанной для нее рентгенограммы с наблюдаемыми рентгеновскими дифракционными картинами для а-формы белков k - m - e - f - группы и полипептидов было неполным. [23]
Здесь можно отметить то, что именно безвозвратная потеря информации о фазе создает трудность восстановления изображений с обычных рентгеновских дифракционных картин. [24]
Цекк [3] полагает, что для более детальной характеристики упорядоченности кордиерита целесообразно использовать рефлексы К ах, наблюдаемые на рентгеновских дифракционных картинах. [25]
Расстекловывания пирекса не наблюдалось при интегральных потоках до 2 - Ю20 нейтрон / см2 [19], но при этом наблюдалось изменение рентгеновской дифракционной картины. [26]
Не так давно Кендрью и его сотрудники [54, 55] успешно синтезировали структуру кристаллов, используя электронную вычислительную машину для осуществления преобразования по Фурье рентгеновской дифракционной картины. Несмотря на все это, рентгеновская микроскопия в ее современной форме имеет ограниченное применение из-за трудностей нахождения фаз в различных точках обратной кристаллической решетки как в методе Кендрью, так и методе Бюргера и Брэгга. [27]
В связи с появлением и развитием счетчиков квантов рентгеновского излучения ( счетчиков Гейгера, пропорциональных, сцинтилляционных, а в последнее время и полупроводниковых), мощных рентгеновских трубок ( электрическая мощность 2 - 5 кВА) и электронных регистрирующих схем в практике рентгеноструктурного анализа нашли широко применение рентгеновские диф-рактометры - приборы для регистрации рентгеновской дифракционной картины с помощью счетчиков. Применение дифрактометров сокращает продолжительность исследования, повышает чувствительность и точность измерения, позволяет исключить фотографическую и денси-тометрическую обработку пленки. [28]
Рентгеновская дифракционная картина тонкой фракции является слюдистой ( см. рис. 8), но со значительным расширением рефлексов ( hkl) в полосы с максимумом, смещенным в сторону меньших брэггов-ских углов, что указывает на неупорядоченность в сдвигах слоев относительно осей а и Ь, а также на большую дисперсность кристаллов. Как видно из электронномикроскопических снимков, размеры кристаллов действительно весьма малы и лежат в пределах 0 01 - 0 1 мк. [29]
Наиболее богатая информация может быть получена в случае совершенных монокристаллов. Их рентгеновская дифракционная картина состоит из небольших четких пятен. Если молекулы исследуемого вещества достаточно малы, то удается точно определить взаимное расположение их атомов. На основании этих данных делают выводы о форме молекулы, длине химических связей и углах между связями. [30]
Страницы: 1 2 3 4