Качество - оптическая система
Cтраница 1
Качество оптических систем во многом определяется тем, в какой степени им присуще свойство изопланарности. [1]
Оценка качества оптических систем по предложенному критерию производится без учета свойств приемников оптического изображения. [2]
В качестве оптической системы применяются все три системы, хотя наиболее распространенной является система катоптрическая. [3]
 |
Спектральная зависимость мощности излучения при различных температурах.| Структурная схема термоэлектрического пирометра. [4] |
В качестве оптической системы может использоваться линза ( прозрачная в ИК-области) или система зеркал. [5]
В качестве оптической системы спектрометров для инфракрасной области спектра употребляются только моиохроматоры. Это обусловлено главным образом двумя обстоятельствами: приемниками излучения и большой шириной спектральной области. [6]
Рассуждения относительно оценки качества оптических систем велись для одной длины волны. [7]
С их помощью изучают качество различных оптических систем и деталей, осуществляют голографическую запись и восстановление волновых фронтов, определяют угловые и линейные величины, исследуют биологические объекты. Одно из главных качеств таких интерферометров - возможность работы в широком спектральном диапазоне ( включая СВЧ) - пока еще используется не полностью по причине отсутствия качественных прозрачных решеток. О другом положительном качестве - устойчивости к вибрациям говорится в § 14 данной главы. Методика расшифровки интерферограмм такая же, что и в интерферометре Цендера - Маха, если при этом рабочий и эталонный пучки полностью разделены и эталонный пучок не деформирован исследуемой неоднородностью. В противном случае интерферометр с решеткой становится интерферометром сдвига со своей методикой расшифровки. [8]
Эффективность седиментационно-диффузионного анализа в значительной степени определяется качеством оптической системы, применяемой для наблюдения за ходом процесса. [9]
Точность измерений на проекторах зависит в первую очередь от качества оптической системы, а также от точности изготовления механических узлов прибора. Погрешности измерений, зависящие от качества оптической системы, обычно превышают погрешности от неточности изготовления механических узлов. Так, при наличии сферической аберрации на экране проектируется изображение, контур которого размыт. [10]
 |
Тяжелые черепковские излучатели. [11] |
Разрешение этого счетчика ограничивается только угловой расходимостью пучка частиц и качеством оптической системы. [12]
 |
Интерференционный метод контроля поверх ности. [13] |
Существуют интерферометры ( В. П. Линкик, Твайман), предназначенные для контроля качества готовых оптических систем ( объективов), причем контролируется не только качество обработки поверхности, но и однородность стекла, из которого изготовлена система. [14]
 |
Интерференционный метод контроля поверхности. Р - испытуемая пластинка. Э - эталонная пластинка. вверху - схематическое изображение интерференционной картины ( линии равной толщины. [15] |
Страницы: 1 2 3