Качество - оптическая система
Cтраница 2
Существуют интерферометры ( В.П. Линник, Твайман), предназначенные для контроля качества готовых оптических систем ( объективов), причем контролируется не только качество обработки поверхности, но и однородность стекла, из которого изготовлена система. [16]
При склейке линз и других деталей оптических приборов клей должен возможно меньше нарушать качество оптической системы и ее эксплуатационные свойства. Для создания такого клея требуется прозрачный, бесцветный полимер с показателем преломления, близким к показателям преломления сочленяемых стекол, обладающий также хорошей адгезией к стеклу, механической прочностью, эластичностью, малой усадкой при отверждении, влагостойкостью и пр. Вязкость клея и время его отверждения должны быть такими, чтобы обеспечить получение тонкого склеивающего слоя без внутренних напряжений. Наконец, желательно проводить склеивание при комнатной температуре. Такой сложный комплекс свойств реализовать одновременно довольно трудно. [17]
Разрешающая способность, определяемая по высококонтрастным мирам, не является достаточной характеристикой для оценки качества оптической системы. [18]
Это делается для того, чтобы избежать влияния ошибок изготовления зеркала, например клино-видности, на качество оптической системы. [19]
Особое значение эти связи приобретают в том случае, когда основные характеристики прибора определяются конструкцией и качеством оптической системы. Действительно, выше было показано, что такой важнейший параметр всей системы, как дальность действия, определяется в значительной степени размером входного зрачка. Однако этот параметр оптического звена тесно связан с величинами относительного отверстия и угла поля зрения, с размером площадки чувствительного слоя приемника. Пример, рассмотренный в гл. [20]
Таким образом, амплитуда импульсов на выходе сцинтилляцион-ного счетчика с тем большей точностью пропорциональна энергии частиц, чем выше светоотдача фосфора, чем лучше качество оптической системы, собирающей свет сцинтилляций на фотокатод фотоумножителя, чем выше чувствительность фотокатода и эффективность собирания фотоэлектронов на первый каскад фотоумножителя, а также чем выше коэффициент усиления каскадов умножителя, в особенности первого каскада. [21]
В таких приборах требования к уменьшению шума приемника за счет уменьшения размера его чувствительной площадки и увеличения рабочей частоты сигнала должны быть согласованы с требованиями к качеству оптической системы. [22]
Получение спектра с помощью фотодиодной матрицы [12] позволяет регистрировать весь спектр в диапазоне 190 - 800 нм, обрабатывать поступающий сигнал на компьютере и сочетать достоинства обоих методов регистрации. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения, длинноволновая граница - чувствительностью детектора. [23]
Лучшие образцы современных УФ-спектрофотометров работают в области от 185 до 850 нм. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения. Для снятия спектров ниже 200 нм оптика прибора должна быть изготовлена из специального кварца, а монохроматор и кю-ветную камеру при работе продувают сухим азотом, чтобы устранить сильное поглощение кислорода и паров воды в этой области. Длинноволновая граница прибора определяется чувствительностью детектора. [25]
Лучшие образцы современных УФ-спектрофотометров работают в области от 185 до 850 нм. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения. Для снятия спектров ниже 200 нм оптика прибора должна быть изготовлена из специального кварца, а монохроматор при работе продувают сухим азотом, чтобы устранить сильное поглощение кислорода и паров воды в этой области. Длинноволновая граница прибора определяется чувствительностью детектора. [26]
 |
Принципиальная оптическая схема двухволнового спектрометра. [27] |
Лучшие образцы современных УФ-спектрофотометров работают в области от 185 до 850 нм. Нижний предел определяется качеством оптической системы и интенсивностью источника излучения. Для снятия спектров ниже 200 нм оптика прибора должна быть изготовлена из специального кварца, а монохроматор и кю-ветную камеру при работе продувают сухим: азотом, чтобы устранить сильное поглощение кислорода и паров воды в этой области. Длинноволновая граница прибора определяется чувствительностью детектора. [28]
Точность измерений на проекторах зависит в первую очередь от качества оптической системы, а также от точности изготовления механических узлов прибора. Погрешности измерений, зависящие от качества оптической системы, обычно превышают погрешности от неточности изготовления механических узлов. Так, при наличии сферической аберрации на экране проектируется изображение, контур которого размыт. [29]
В книге рассмотрены вопросы проектирования, изготовления и эксплуатации оптических систем иа основе дифракционных элементов, преобразующих волновой фронт в результате дифракции света на их структуре. Развиты методы аберрационного расчета и оценки качества оптических систем. Приведены оригинальные схемы высокоразрешающих объективов на основе дифракционных линз, а также комбинированных систем, включающих дифракционные и рефракционные линзы. [30]
Страницы: 1 2 3