Cтраница 2
Индикатор представляет собой электронно-лучевой осциллограф с экраном диаметром 15 см. Размах колебаний луча индикатора составляет 8 см, расстояние от экрана индикатора до глаз испытуемого - 70 см. Эксперимент проводился при дневном освещении. [16]
Итак, для нахождения концентрации раствора сахара достаточно измерить угол вращения плоскости колебаний луча света, проходящего через слой этого раствора определенной толщины; кроме того, необходимо знать значение постоянной прибора. [17]
Планка), равный 6 62 - Ю-34 дж-сек; v - частота колебаний данного луча в 1 сек. [18]
В систему Прогноз заложены блоки, позволяющие управлять перемещениями луча, необходимыми в технологическом отношении: вести сварку с продольными, поперечными и кольцевыми колебаниями луча, выполняемыми с различной заданной скоростью и по различному закону. [19]
Если через ставшее таким образом анизотропным вещество проходит луч света, скорость его распространения зависит от того, совпадает ли плоскость колебаний луча с направлением поля или перпендикулярна к нему. Луч, колебания которого совпадают с направлением поля, в отличие от обыкновенного луча называется необыкновенным лучом. [20]
![]() |
Внешний вид и схема устройства поляриметра-сахариметра. [21] |
Николя; S - двойная кварцевая компенсация; в - диафрагма; г - поляризационная трубка; S-я - поляризатор Пипиха; 1 о - линза; 11 - светофильтр; 12 - лампа; г л-шкала с нониусом; 14-рукоятка стержня передвижения призм комаенсатора; направление колебаний луча ( идущего перпендикулярно к плоскости чертежа); а - естественного; б - поляризованного. [22]
На чертежах направления колебаний лучей о и е всюду обозначены черточками и точками. Направления колебаний луча о везде перпендикулярны к оси, а колебания луча е составляют с осью различные углы. Во всех трех случаях луч е не выходит из плоскости падения. [23]
Анализатор Л, расположенный вслед за кристаллической пластинкой / (, сведет колебания необыкновенного и обыкновенного лучей в одну плоскость. Плоскость колебаний луча, падающего на пластинку, может быть произвольно ориентирована относительно главных направлений кристаллической пластинки. Свет распространяется перпендикулярно к оптической оси пластинки, и поэтому двойное лучепреломление отсутствует. [24]
Пусть два николя I и II перекрещены и не пропускают света ( рис. 209); поместим между ними слой раствора сахара. Плоскость колебаний луча, падающего на николь / /, уже не будет перпендикулярна его главному сечению; через николь / / будет частично проходить свет. [25]
Так как показатель преломления воздуха ( п - 1 00029) меньше показателя преломления вещества пленки ( па 1 4), который в свою очередь меньше показателя преломления стекла ( па1 5), то в обоих случаях отражение происходит от среды оптически более плотной, чем та среда, в которой идет падающий луч. Поэтому фаза колебания луча ASt при отражении в точке А изменяется на л рад и точно так же на it рад изменяется фаза колебаний луча ВС52 при отражении вточке В. [26]
![]() |
Режимы электрон но-лучевой парки. [27] |
Для перемещения луча по поверхности изделия используют перемещение изделия или самого луча с помощью отклоняющей системы. Отклоняющая система позволяет осуществлять колебания луча вдоль и поперек шва или по более сложной траектории. [28]
![]() |
Схема установки для наблюдения интерференции в сходящихся лучах.| Пластинка одноосного кристалла между параллельными николями.| Пластинка одноосного кристалла между скрещенными николями. [29] |
Соотношения интен-сивностей обыкновенного и необыкновенного лучей различны в различных частях одной окружности. На рис. 145 АВ означает плоскость колебаний луча, прошедшего николь Р; поскольку радиусы окружностей являются следами плоскостей падения для соответствующих лучей, луч, попадающий в точку Е, разложится на необыкновенный с амплитудой, направленной по радиусу, и обыкновенный с амплитудой, перпендикулярной к радиусу. [30]