Количество - отражение
Cтраница 1
Количество отражений, равное числу неизвестных параметров - координат атомов, всегда имеется в нашем распоряжении; тем не менее составить уравнения невозможно. Структурные амплитуды F ( hkl) FB ( hkl) 1 е аш) зависят не только от интенсивности отражений, но и от их относительных фаз ( а в случае центросимметричной структуры - от знаков структурных амплитуд), которые заранее неизвестны. [1]
Увеличение количества отражений в одном и том же неравенстве усложняет анализ результатов, вытекающих из них. С другой стороны, одновременно повышается эффективность неравенств. [2]
Так как количество отражений может быть очень большим, то к качеству поверхности волокна и чистоте используемого материала предъявляются очень жесткие требования. [3]
Однако увеличение количества отражений за счет возрастания размеров ячейки ( а следовательно, и числа атомов в ячейке) приводит к ухудшению статистики, так как при этом падает среднее значение модуля структурной амплитуды, а следовательно, и процент ярких отражений. Как сказано выше, статистический метод теряет свою эффективность при 100 - 120 атомах в ячейке. [4]
 |
Координаты симметрически связанных атомов в группе Pmml. [5] |
Одновременно симметрия сокращает количество отражений, для которых приходится производить расчеты, так как она уравнивает значения структурных амплитуд с одинаковыми по модулю и разными по знаку индексами. [6]
Ряд Фурье, представляющий электронную плотность, содержит бесконечное число членов, тогда как количество отражений, даваемых кристаллом, всегда ограничено, какое бы излучение ни использовалось. В принципе, могут быть учтены только те члены разложения, которым соответствуют узлы обратной решетки, попадающие внутрь граничной сферы; практически их еще меньше в соответствии с тем дифракционным полем, которое охватывается снятыми рентгенограммами внутри граничной сферы. Поэтому неизбежно приходится обрывать ряд на некотором п-ом члене, заменяя бесконечный ряд некоторой его частью. Обрыв ряда Фурье не вносит существенных искажений в получаемый результат только в том случае, если сумма отброшенных членов ряда является достаточно малой величиной. [7]
В заключение - в главах пятой и шестой - рассматриваются проблема статистики интенсивности ( соотношение между количеством отражений с различной интенсивностью) и методы экспериментального измерения интенсивности. [8]
Для величин, определяемых экспериментально, среднее значение находится просто суммированием по разным отражениям и делением на количество отражений. [9]
Разделение стадий определения структурного типа и уточнения координат атомов связано с некоторой спецификой приемов исследования и увеличения количества отражений, привлекаемых к расчету при переходе к уточнению координат. [10]
По данным этих авторов, при исследовании таких органических структур, как а-феназин, 3 4-бензофенантрацен и 1 12-диме-тилбензофеиантрацен количество отражений одной зоны повышается примерно в два раза, а точность фиксации координат атомов углерода-в 5 раз. На проекциях выявляются атомы водорода. [11]
Для точного определения длины траектории распространения кроме координат приемной и передающей станций необходимо знать среднюю высоту ионосферного слоя в момент сличения и количество отражений принимаемого сигнала. Максимальное расстояние, которое перекрывает радиосигнал с одним отражением от ионосферы ( от слоя 2), равно 4000 км. Сигналы, отраженные от слоя Е, принимают только в дневное время, и их прием ограничен траекторией с одним отражением на расстоянии до 2400 км. В некоторых точках Земли возможен прием сигналов, отраженных и от других слоев ионосферы. [12]
Здесь W - поле скорости жидкости, в которой осождается облако; W ( 1) - поле скорости, создаваемое пробной частицей, как если бы в жидкости находилась она одна; W № - поля, отраженные от различных поверхностей; М - количество отражений, определяемое желаемой степенью точности результата. [13]
Здесь Pf - поле скорости жидкости, в которой осождается облако; W () - поле скорости, создаваемое пробной частицей, как если бы в жидкости находилась она одна; W ( fc) - поля, отраженные от различных поверхностей; М - количество отражений, определяемое желаемой степенью точности результата. [14]
Количество независимых отражений hkl было равно 950, пространственная группа Dl2hPnam, количество структурно независимых атомов в ячейке-шесть. Операция перевода в двоичную систему и набивки перфоленты заняла 8 часов. [15]
Страницы: 1 2 3