Компенсация - заряд - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Закон администратора: в любой организации найдется человек, который знает, что нужно делать. Этот человек должен быть уволен. Законы Мерфи (еще...)

Компенсация - заряд

Cтраница 2


Но все же этот фактор недостаточен для объяснения компенсации заряда.  [16]

Выше рассмотрен лишь частный случай, показывающий, что компенсация заряда при гетеровалентных изоморфных замещениях в цементных минералах может быть осуществлена за счет дополнительных ионов кальция, формально неизоморфных. Этот факт является одной из причин появления избыточного СаО в составе цементных минералов.  [17]

В потоке жидкости производится работа образования электрического заряда для компенсации заряда утечки. В связи с этим эту часть работы образования электрического заряда следует отнести к необратимым превращениям работы. Работа образования компенсирующего заряда превращается в тепло, которое передается в объем жидкости.  [18]

В исследованных в лаборатории окислах наблюдались все три типа компенсации заряда примесей и было установлено, что такие свойства, как устойчивость в воздушной и нейтральной атмосфере, механизм переноса тока, влияние примесей на электропроводность, определяются преобладающим сортом примесей и типом компенсации их заряда.  [19]

20 Образование обедненного ( а, инверсного ( 6 и обогащенного ( в слоев в полупроводнике вблизи металлургического контакта с металлом при работе выхода в металле меньше, чем в полупроводнике.| Изменение высоты потенциального барьера на выпрямляющем неинжектирующем переходе между металлом и. [20]

В обедненных слоях пространственный заряд формируется в результате нарушения компенсации заряда ионизированных примесей основными носителями, а в обогащенных - из-за накопления основных носителей заряда. Обогащенный слой обусловливает малое сопротивление приконтактной области полупроводника по сравнению с сопротивлением объема полупроводника.  [21]

В обедненных слоях объемный заряд формируется в результате нарушения компенсации заряда ионизированных примесей основными носителями, а в обогащенных - из-за накопления основных носителей заряда.  [22]

23 Образование обедненного ( а, инверсного ( б и обогащенного ( в слоев в полупроводнике вблизи металлургического контакта с металлом при работе выхода в металле меньше, чем в полупроводнике. [23]

В обедненных слоях пространственный заряд формируется в результате нарушения компенсации заряда ионизированных примесей основными носителями, а в обогащенных - из-за накопления основных носителей заряда. Обогащенный слой обусловливает малое сопротивление приконтактной области полупроводника по сравнению с сопротивлением объема полупроводника.  [24]

Интенсивный аксиальный спектр ЭПР Fe3 в ЗгТЮз, обусловленный компенсацией заряда ближайшим соседом.  [25]

Интенсивный аксиальный спектр ЭПР Fe3 в SrTiOa, обусловленный компенсацией заряда ближайшим соседом.  [26]

Приведенные величины дефицита заряда характеризуют дополнительный заряд, необходимый для компенсации заряда элементарной ячейки. Хотя в некоторых случаях в механизме замещения постулируется участие ОН - и НзО2 - - групи, их использование для компенсации заряда является произвольным; исключение составляет цеолит Р - А. В большинстве случаев величины дефицита заряда приемлемы в пределах точности анализа.  [27]

Флайшман и др. [22] идут еще дальше - они рассматривают компенсацию зарядов трех ионов.  [28]

Связь между ними осуществляется посредством водородных или электростатических сил через компенсацию зарядов между указанными слоями, а также через образование алюмокислородных мостиков. Связь между слоями носит полярный характер, образующиеся пакеты скрепляются вандерваальсовыми силами. Однако данный подход встречает возражения с позиций свойств межчастичных сил, а также того, что соли кремниевых кислот, образуются только при высоких температурах и в присутствии воды гидролизуются, в то время как глина является чрезвычайно устойчивым гидратным соединением.  [29]

30 Сопоставление термодинамического PW. равному 1. Тогда 33 - е и электрокинетического потенциалов. ряд твердой поверхности. [30]



Страницы:      1    2    3    4