Cтраница 1
Интенсивность отраженного света зависит как от угла падения, так и от направления поляризации. [1]
Интенсивность отраженного света, измеренная в Аа, зависит от количества падающего света как в AI, так и в Аз. Другими словами, она является функцией распределения интенсивности источника света, используемого в спектрофотометре. Этот источник должен, следовательно, иметь то же спектральное распределение, что и источник, при котором обычно проводится визуальное сравнение образцов, включая ультрафиолетовую область спектра, которая часто возбуждает флюоресценцию в видимой области. [2]
Интенсивность отраженного света в случае полного внутреннего отражения получается в теории Френеля, как это ясно с самого начала, равной интенсивности падающей волны. [3]
Интенсивность отраженного света не зависит от длины волны. [4]
Интенсивность отраженного света пропорциональна длине волны. [5]
Интенсивность отраженного света обратно пропорциональна длине волны. [6]
Поскольку интенсивность отраженного света изменяется вместе с изменением толщины пленки, см. уравнение ( 16), для определения толщины пленки может быть применено точное измерение интенсивности. [7]
При измерении интенсивности отраженного света угол падения светового луча обычно отличен от нуля и составляет 5 - 10, поскольку коэффициент отражения при таких углах падения практически не отличается от его значения при нормальном падении. Условие feCnr выполняется для многих полупроводников в широком спектральном интервале в длинноволновой области за краем собственного поглощения даже при наличии значительной концен-центрации свободных носителей заряда. Это обстоятельство позволяет использовать формулу (6.13) для вычисления показателя преломления. [8]
Максимумы и минимумы интенсивности отраженного света при изменении длины волны наблюдаются на тех длинах волн, для которых разность фаз равна целому числу полуволн. [9]
Пространств, распределение интенсивности отраженного света зависит от соотношения между размерами неровностей h поверхности ( границы раздела) и длиной волны Я падающего излучения. [10]
Коэффициент отражения - отношение интенсивности отраженного света к интенсивности падающего света. [11]
С увеличением угла падения увеличивается интенсивность отраженного света. [12]
Как зависит в нефелометрическом методе интенсивность отраженного света от длины волны света. [13]
Зависимость интенсивности отраженного света от величины промежутка между призмами.| Схема модулятора фирмы Цейсе. [14] |
На рис. 284 показана зависимость интенсивности отраженного света от величины промежутка между призмами, выраженная в процентах от интенсивности падающего света. [15]