Cтраница 2
Для серых и черных пленок измерение интенсивности отраженного света позволяет определить их толщину, а изучение зависимости интенсивности отраженного света от времени - кинетику утоньшения. [16]
Коэффициент отражения р, равный отношению интенсивности отраженного света к интенсивности падающего света, тоже зависит от длины волны. [17]
Схема прохождения светового по. [18] |
При пользовании одной и той же кюветой интенсивность отраженного света постоянна; в случае водных растворов эта величина невелика и ею можно пренебречь. [19]
Сущность метода заключается в том, что интенсивность отраженного света пропорциональна поверхности дисперсии, обращенной в сторону источника света, а следовательно, и полной поверхности дисперсии. Параллельный пучок света направляется в дисперсную систему, и измеряется интенсивность либо отраженного, либо неотраженного света. [20]
Аппликатор для ТСХ. [21] |
Уменьшение размеров частиц сорбента приводит к возрастанию интенсивности отраженного света, поскольку измерение поглощения анализируемым веществом проводят ъ условиях, в которых закон Кубелки - Мунка [16] выполняется более строго, чем в классическом варианте ТСХ. [22]
Техника про-кислот с нингидрином описывается явления хронограммы. [23] |
Спектроденситометр определяет содержание вещества в пятне путем измерения интенсивности отраженного света: белый слой сорбента отражает практически весь свет, а пятна поглощают часть светового потока. [24]
Высказанные соображения качественно объясняют, очевидно, и независимость интенсивности отраженного света с частотой 2со от степени синфазности вторичных преломленных волн. [25]
Высказанные соображения качественно объясняют, очевидно, и независимость интенсивности отраженного света с частотой 1ш от степени синфазности вторичных преломленных волн. [26]
Яркость несамосветящихся тел, например нефлюоресцирующих пигментов, характеризуется интенсивностью отраженного света [ 21, с. [27]
При отсутствии анализатора регистрируется экваториальный эффект Керра, представляющий собой изменение интенсивности отраженного света, пропорциональное изменению компоненты намагниченности, перпендикулярной плоскости падения света. В случае, когда электрический вектор световой волны перпендикулярен плоскости падения ( s - волна), экваториальный эффект Керра равен нулю. [28]
Оптическая схема рефрактометрического детектора. [29] |
Другой метод измерения основан на чаконе отражения света ( закон Френеля), согласно которому интенсивность отраженного света, падающего на поверхность границы раздела жидкости и стекла, пропорциональна углу падения и разности показателей преломления двух сред. Преимуществом детекторов, работающих на этом принципе, является меньший объем ячеек ( 3 мкл), в связи с чем они могут работать при небольших расходах элюента и с высокоаффективными колонками. Однако чувствительность таких детекторов в 50 - 100 раз ниже чувствительности других типов рефрактометрических детекторов, что, кстати, делает их более 11ригодными для градиентного элюирования. Так как детектирование происходит на границе раздела жидкости и стекла, для получения стабильной работы детектора необходимо следить за чистотой стекла. [30]