Контроль - толщина - покрытие
Cтраница 1
Контроль толщины покрытий производят прямым измерением толщины платы или взвешиванием до и после покрытия. Измерение производят микрометром, а взвешивание - на аналитических весах. [1]
Контроль толщины покрытий осуществляется различными методами. Простейший из них - измерение толщины изделий микрометром до и после получения покрытия. Метод применим только для покрытий толщиной более 0 01 мм, причем на изделиях простого профиля с точно пришлифованными поверхностями. [2]
Контроль толщины покрытий производится химическими или физическими методами. Методы химического контроля толщины покрытий основаны на растворении покрытия на выбранных участках поверхности под действием специально приготовленных растворов. [3]
Контроль толщины покрытия проводят до его дополнительной обработки. [4]
Контроль толщины покрытия металлографическим методом допускается проводить не реже одного раза в смену. [5]
Контроль толщины покрытия может быть осуществлен прибором. [6]
 |
Магнитный толщиномер с универсальной шкалой. а - внешний вид. б - принципиальная схема. [7] |
Для контроля толщины покрытий предложены различные методы, основанные на использовании радиоактивных излучений. [8]
Для контроля толщины покрытий непосредственно в производственных условиях при серийном и массовом выпуске изделий, когда идут однотипные детали из ферромагнитного материала с более или менее постоянными магнитными свойствами, следует применять приборы и методы, основанные на магнитном методе. [9]
Для контроля толщины покрытий выгодно, чтобы зависимость интенсивности обратно-рассеянного излучения от атомного номера z рассоива-таля N N ( z) шла бы как можно круче. Ход этой зависимости обусловлен геометрическими факторами, толщиной поглотителя на пути излучения к регистрирующему устройству и типом регистрирующего устройства. [10]
Методы контроля толщины покрытия делятся на разрушающие и неразрушающие. [11]
 |
Общий вид прибора бета-толщиномера БТП-1. [12] |
Для контроля толщины покрытий могут применяться приборы, действие которых основано на использовании источников ядерных излучений, например бета-толщиномер 4 типа БТП-1 ( рис. 54) поставляемый Всесоюзным объединением Изотоп. Прибор предназначен для выборочного контроля покрытий из материала, отличающегося по атомному номеру от материала основы. [13]
Методы контроля толщины покрытий могут быть основаны на использовании химических и физических методов. [14]
Для контроля толщины покрытия непосредственно в процессе осаждения применяется прибор типа КГП ( фиг. [15]
Страницы: 1 2 3 4