Контроль - толщина - покрытие
Cтраница 3
 |
Вид поля зрения прибора ПТС-1 при измерении прозрачного покрытия. [31] |
Оптические методы [67] для контроля толщины покрытий и пленок применены в некоторых приборах, выпущенных зарубежными фирмами. [32]
К этой группе методов контроля толщины покрытий относится микроскопический метод, метод хорды и спектральный метод. [33]
На чем основан магнитный метод контроля толщины покрытия. [34]
В справочном пособии изложены методы контроля толщины покрытий на готовых деталях и изделиях. Приведены описания приборов и устройств, предназначенных для этой цели. Для каждого прибора приведена техническая характеристика; для большинства из них даны принципиальные и электротехнические схемы, описание конструкции датчиков; к некоторым приложены полные спецификации. В конце книги даны общие рекомендации по выбору метода контроля толщины покрытий. [35]
Основное требование к применяемым приборам для контроля толщины покрытия состоит в том, чтобы исключить влияние различных геометрических и физических параметров контролируемых деталей на показания приборов. Из геометрических параметров наибольшее значение имеет форма контролируемой поверхности, характеризующаяся радиусом кривизны. Наличие кривизны поверхности увеличивает эффективное расстояние между датчиком и контролируемым изделием на этом участке, что приводит к нарушению зависимости показания прибора от толщины. [36]
При использовании химических методов возможность автоматизации процесса контроля толщины покрытий в условиях серийного и массового изготовления деталей практически исключается. [37]
Применяются также следующие химические и физические методы контроля толщин покрытий: метод снятия, взвешивание до и после покрытия, метод струи, метод капли, оптические методы. [38]
 |
Зависимость показаний прибора МФ-10Ф от толщины ( а и ширины ( б образцов с различным содержанием а-фазы. [39] |
Магнитный и электромагнитный методы можно применять для контроля толщины немагнитных и слабомагнитных покрытий на магнитной основе. В химическом машиностроении большой практический интерес представляет возможность определения указанными выше методами толщины плакирующего слоя биметаллов, особенно в тех случаях, когда ультразвуковой метод оказывается малоэффективным или непригодным вовсе. [40]
В настоящей книге представлены материалы по различным методам контроля толщины покрытий на готовых деталях и изделиях, приведены описания приборов и устройств, предназначенных для осуществления указанного контроля. [41]
В установке используется ультразвуковой толщиномер и прибор для контроля толщины неметаллических и неферромагнитных покрытий на магнитной основе при одностороннем доступе. [42]
Размеры деталей обеспечиваются проверкой до нанесения покрытия и контролем толщины покрытия. [43]
Размеры деталей обеспечиваются проверкой до нанесения покрытия и контролем толщины покрытия. [44]
 |
Катод прямого накала.| Автомат для изготовления прямонакальных катодов. [45] |
Страницы: 1 2 3 4