Коэффициент - ионизация
Cтраница 3
 |
Градуировоч-ные кривые альфатро-на D для двух областей измерений ( т. е. с двумя сопротивлениями разной величины 7. г. 205. [31] |
На рис. 206 приведены типичные градуировочные кривые аль-фатрона D для двух диапазонов измеряемых давлений, и в данном случае положение кривых зависит от рода газа, так как коэффициент ионизации а-излучением уменьшается с ростом молекулярного веса наполняющего газа. Несмотря на то что, как это видно из рис. 207, ионные токи в альфатроне малы по сравнению с другими типами ионизационных вакуумметров, тем не менее он применяется довольно часто, так как диапазон измеряемых с его помощью высоких давлений дополняет диапазон давлений, измеряемых с помощью ионизационного вакуумметра с накаленным катодом и термопарного вакуумметра. [32]
Как мы видели, лавинное умножение имеет место в областях сильного электрического поля, где кинетическая энергия свободных носителей заряда достаточна для ионизации атомов кристаллической решетки. Коэффициент ионизации для электронов а определяют как среднее число ионизирующих столкновений на единичном расстоянии дрейфа электрона. Коэффициент ионизации дырок определяется аналогично. Вообще говоря, а и р имеют различные численные значения, но оба коэффициента сильно зависят от электрического поля. [33]
При использовании лазера, взрывных проволочек и дуг ионизация происходит главным образом за счет взаимодействия электронного газа с нейтральными атомами и ионами плазмы. Коэффициент ионизации зависит от потенциала ионизации, кинетической энергии электронов и распределения электронов по энергиям. Ионизация распылением происходит на поверхности, но результирующая картина подобна свободной плазме. Природа высокочастотной искры сложна. Широкая область ее применения отражает существование многих процессов, происходящих во время высоковольтного пробоя. [34]
Величина относительного коэффициента ионизации приведена к одинаковой интенсивности падающего пучка и одинаковому числу молекул в облучаемом объеме. Коэффициент ионизации воздуха принят за единицу. [35]
Ионизация возникает в результате действия поля коронного разряда. Первый таунседовский коэффициент ионизации а ( число рожденных ионных пар на 1 м пути) характеризует процесс рождения ионов между парой плоских электродов в цилиндрическом столбе радиуса R и длины х ( см. стр. [36]
А и В - постоянные, зависящие от природы полупроводника. Хотя коэффициенты ионизации для дырок и электронов заметно отличаются друг от друга, по существу при пробое образуется одинаковое число носителей. [37]
Это и есть формула Таунсенда для ионизации. Она определяет коэффициент ионизации а для любой формы электродов, как функцию давления р и напряженности поля Е в газоразрядной лампе, в которой носители заряда образуются в результате ударной ионизации электронами. [38]
По аналогии с пробоем в газах этот процесс характеризуется коэффициентами ионизации электронов а и дырок ( 3, равными числу электронно-дырочных пар, создаваемых носителем заряда на 1 см пути. Определение зависимостей коэффициентов ионизации от напряженности электрического поля, температуры и свойств кристалла представляет одну из основных физических проблем исследования процесса ударной ионизации. [39]
Первый член правой части уравнения представляет собой число пар носителей заряда, которые повторно образованы электронами в слое dx, а второй член выражает число пар носителей, образованных ионами. Множитель р - есть коэффициент ионизации, совершаемой ионами. [40]
При напряженности поля Е Ю5 В / см в полупроводнике возникает ударная ионизация атомов носителями, движущимися в этом поле. Для характеристики процесса вводятся коэффициенты ионизации - число электронно-дырочных пар, создаваемых электроном ап и дыркой ар на единице длины. Коэффициент ионизации очень сильно зависит от напряженности поля ( рис. 9.3), например, увеличение поля в два-три раза может привести к росту коэффициента ионизации на пять порядков. Для кремния коэффициенты у электронов и дырок значительно различаются. [41]
В электронной лавине поэтому число электронов меняется дискретными случайными ступенями ( рис. В. Для математической формулировки проблемы используются коэффициенты ионизации и прилипания, характеризующие интенсивность образования и гибели электронов. С их помощью можно вычислить зависящую от напряженности поля и числа начальных электронов вероятность того, что будет достигнуто критическое число электронов в лавине пк. [42]
Прежде всего приводятся уравнение состояния и формула для внутренней энергии смеси газ - излучение в наиболее удобном для использования виде. Далее приведены аналитические формулы для коэффициентов ионизации и рекомбинации с целью проиллюстрировать их зависимость от температуры и таблица рассчитанных в последние годы коэффициентов ионизации и рекомбинации. Записаны основные соотношения теории переноса излучения в атмосферах звезд, даны асимптотические формулы и графики для определения коэффициента непрозрачности вещества звездных оболочек, описано строение оболочек звезд, в частности, гигантов и сверхгигантов. И, наконец, приведены уравнения газовой динамики в форме Эйлера и Лагранжа. [43]
При рассмотрении возможных механизмов реакций, приводящих к образованию определенных продуктов, необходимо опираться на сведения о природе и количестве первичных ионов и возбужденных молекул, возникающих в данной системе при взаимодействии с излучением. Использование имеющихся в литературе данных по коэффициенту ионизации [5] и масс-спектрометрическому исследованию [6] паров спирта позволяет исходить из следующего расчета. На каждые 100 эв поглощенной энергии излучения образуется - 4 пары ионов, причем средний ионизационный потенциал соответствует 13 - 14 эв. Следовательно, на возбуждение молекул расходуется 40 - 50 эв. [44]
Методы, использующие положительные ионы, делятся натри труппы. При ионизации за счет бомбардировки поверхности моноэнергетическим пучком электронов можно определять все элементы, при этом коэффициент ионизации для данного элемента пропорционален его поперечному сечению ионизации при соответствующей энергии электронов. В случае термоионной эмиссии с накаленных поверхностей ( ионизации Саха-Ленг - мюра) коэффициент ионизации зависит от температуры поверхности и разности между потенциалом ионизации определяемого элемента и работой выхода материала поверхности. Метод отличается высокой селективностью, поскольку элементы с низкими потенциалами ионизации имеют большее преимущество. [45]
Страницы: 1 2 3 4