Структурная кристаллография

Cтраница 1

Структурная кристаллография исследует закономерности внутреннего строения кристаллов. Рентгенография исследует структуру кристаллов, анализируя дифракцию рентгеновских лучей от кристалла. Кристаллическим называют вещество, чьи частицы закономерно периодически повторяются в пространстве. Согласно одному из распространенных определений, кристаллом называется однородное анизотропное тело, способное самоограняться. Однородность кристалла проявляется в постоянстве химического и фазового состава его, в неизменности его скалярных свойств. Анизотропия кристалла состоит в том, что векторные свойства его могут оказаться разными, будучи измеренными в различных направлениях. Малые скорости зарождения и роста приводят к возникновению крупных одиночных правильно ограненных кристаллов. Высокие скорости зарождения и роста приводят к конкурирующему росту множества зародившихся в расплаве или растворе микроскопически мелких кристаллов до их случайного столкновения друг с другом с образованием поликристаллического конгломерата. [1]

Данные структурной кристаллографии являются основным источником сведений о кратчайших межмолекулярных расстояниях. Силы притяжения между несвязанными и нейтральными: атомами с заполненными электронными оболочками очень незначительны и в основном обусловлены дисперсионными эффектами. Напротив, отталкивание может быть объяснено противодействием взаимопроникновению электронных облаков отдельных атомов. Характерной особенностью этих сил является их очень резкое возрастание с уменьшением междуатомного расстояния. По этой причине за расстояние, соответствующее межмолекулярному контакту, принимается расстояние-между атомами, характеризуемое очень слабым притяжением. Значения минимальных расстояний между несвязанными атомами были ранее определены рядом авторов и систематизированы Полингом в его таблице ван-дер-ваальсовых радиусов ( см. Приложение к главе 1, стр. Эти величины в пределах ограничений, указанных составителем таблицы, до сих пор являются общепринятыми. [2]

В структурной кристаллографии принята совсем иная система обозначений точечных групп, основанная на приведенных выше обозначениях элементов симметрии. [3]

В структурной кристаллографии принята именно эта вторая система опорных операций симметрии; на ней основана номенклатура групп симметрии, характеризующих атомную структуру кристаллов. [4]

В структурной кристаллографии принята совсем иная система обозначений точечных групп, основанная на приведенных выше обозначениях элементов симметрии. [5]

В структурной кристаллографии принята совсем иная система обозначения точечных групп, основанная на приведенных выше обозначениях элементов симметрии. Во всех случаях первая из букв, обозначающих плоскости, относится к плоскости, перпендикулярной главной оси. [7]

Стереографическая проекция плоскости. [8]

В геометрической и структурной кристаллографии при решении ряда задач необходимо строить стереографические проекции элементов симметрии кристалла или решетки. Проекции осей симметрии получаются так же, как и стереографические проекции направлений, а проекции плоскостей симметрии - как стереографические проекции плоскостей в кристаллическом комплексе. [9]

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного реитгеноструктуриого анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [10]

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы начальных фаз, наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографиче-ского. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз ( знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным. [11]

Важнейшие обобщения в области структурной кристаллографии были достигнуты в результате развития идеи плотной упаковки частиц в кристалле. В этом отношении советские кристаллографы, разрабатывающие наследство Федорова, занимают ведущее положение в мировой науке. [12]

В первой главе кратко изложены вопросы структурной кристаллографии и дифракционных методов исследования структуры твердых тел. Вторая глава посвящена рассмотрению сил, удерживающих дискретные частицы вместе в твердых телах. [13]

В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой глаЪе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых-в нашей стране. [14]

В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой главе даны наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтроногра-фического и электронографического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [15]

Страницы: 1 2 3