Структурная кристаллография
Cтраница 2
В первых двух главах рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения. Третья и четвертая посвящены изложению методов решения проблемы начальных фаз. В пятой даны приложения структурных исследований в химии. Здесь же сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и элек-троно графического. В приложении приведены данные об основных комплексах программ структурных расчетов на ЭВМ различных типов, используемых в нашей стране. [16]
Кроме того, в руководстве изложены элементы структурной кристаллографии, методы построения и анализ проекций кристаллов. [17]
Особое значение имеют результаты, полученные методами структурной кристаллографии. [18]
С помощью обратной решетки легко решаются многие задачи структурной кристаллографии. Приведем некоторые основные формулы, часто встречающиеся в кристаллографических расчетах. [19]
В частности, к этому средству приходится прибегать и в структурной кристаллографии. [20]
В частности, к этому средству приходится прибегать и в структурной кристаллографии. [21]
Понятно поэтому, что изложение основ рентгено-структурного анализа кристаллов немыслимо без предварительного ознакомления с некоторыми понятиями, представлениями и обозначениями, принятыми в структурной кристаллографии, и в первую очередь в теории симметрии кристаллов. В задачу автора отнюдь не входит последовательное изложение всех основ теории симметрии. Рассматриваются лишь те ее аспекты, которые абсолютно необходимы для понимания особенностей дифракционных эффектов, возникающих при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы, и для правильного ( грамотного) описания самой структуры кристалла. [22]
Понятно поэтому, что изложение основ рентгеноструктурного анализа кристаллов немыслимо без предварительного ознакомления с некоторыми понятиями, представлениями и обозначениями, принятыми в структурной кристаллографии и в первую очередь в теории симметрии кристаллов. С этих представлений и целесообразно начать, предварительно оговорившись, что в задачу автора отнюдь не входит последовательное изложение всех основ теории симметрии. Будут рассматриваться лишь те ее аспекты, которые абсолютно необходимы для понимания особенностей дифракционных эффектов, возникающих при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы, и правильного ( грамотного) описания самой структуры кристалла. [23]
Понятно поэтому, что изложение основ рентгено-структурного анализа кристаллов немыслимо без предварительного ознакомления с некоторыми понятиями, представлениями и обозначениями, принятыми в структурной кристаллографии, и в первую очередь в теории симметрии кристаллов. В задачу автора отнюдь не входит последовательное изложение всех основ теории симметрии. Рассматриваются лишь те ее аспекты, которые абсолютно необходимы для понимания особенностей дифракционных эффектов, возникающих при прохождении рентгеновских лучей через кристаллы, и для правильного ( грамотного) описания самой структуры кристалла. [24]
 |
Схемы рентгеносъемки, иллюстрирующие формирование дифракционных пятен на лауэграммах ( а и эпиграммах ( б и соответствующие рентгенограммы монокристалла меди ( в, г. [25] |
Метод Лауэ получил наибольшее распространение для определения ориентации монокристаллов, изучения их симметрии и степени совершенства их кристаллического строения, однако с его помощью успешно решаются и другие задачи структурной кристаллографии. VIII показано, как с помощью лауэграмм определяется симметрия кристаллов. [26]
В пособии изложены основные вопросы физики твердого тела. Рассмотрены элементы структурной кристаллографии, способы определения кристаллографических структур, различные типы связи в твердых телах, дефекты структуры. Рассмотрены также вопросы бурно развивающейся в настоящее время физики аморфных твердых тел. [27]
Кристаллография изучается прежде всего как первый и основополагающий раздел физики твердого тела, знание которого является обязательным для изучения всех других курсов металлофизического цикла, начиная с курса металлографии и кончая дисциплинами специализации. Главное внимание концентрируется на вопросах структурной кристаллографии, поскольку курс в целом направлен на овладение дифракционными методами анализа для изучения структуры металлов и сплавов. [28]
Спектр плотности кристалла в пространстве Фурье характеризуется трехмерной модулированной периодической функцией. Описание и анализ этой функции, так же как и периодической структуры кристалла, требуют владения языком структурной кристаллографии и знания теории симметрии кристаллов. [29]
Можно, однако, взять за основу несколько иную систему операции симметрии, а именно: повороты, инверсию и повороты, сопровождаемые инверсией в одной из точек, лежащих на оси поворота. В этом случае зеркальное отражение может рассматриваться как поворот на 180, совмещенный с инверсией, а зеркальные повороты по определенным правилам, относящимся к порядку оси поворота, сводятся к инверсионным поворотам. В структурной кристаллографии принята именно эта вторая система опорных операций симметрии; на ней основана номенклатура групп симметрии, характеризующих атомную структуру кристаллов. [30]
Страницы: 1 2 3