Cтраница 1
Линии углерода с наиболее высокими на сегодняшний день уровнями переходов были приняты в Харькове на радиотелескопе УТР-2. На рис. 2.39 показана усредненная спектрограмма линий углерода С7б4о С7б8о, полученная Коноваленко ( 1990) в диапазоне 14 7 МГц в направлении на Кассиопею А. [1]
Ширина линии углерода в направлении Кае А увеличивается с ростом п, особенно, на низких частотах. [2]
А налагается линия углерода 2641 44 А. [3]
Отношение интенсивностей ИК линий углерода и кислорода имеет другую зависимость. [5]
![]() |
Зависимость логарифмов ин-тенсивностей линий С III 2296 86 и Fe III 2295 86 и интенсивности фона от содержания углерода для низколегированных сталей ( а и сталей с высоким содержанием хрома ( б. [6] |
Как видно из рисунка, интенсивность линий углерода практически не зависит, а интенсивность фона только слегка зависит от содержания хрома в сталях, в то время как интенсивность линий железа зависит от содержания и углерода и хрома. [7]
![]() |
Часть масс-спектра окиси магния. [8] |
Утверждают, что помех со стороны линий углерода не возникает и что влияние графита на работу искры достаточно постоянно. При длительных экспозициях, однако, кластеры углерода ( например, до С16) могут вызвать помехи. [9]
![]() |
Типичный спектр, сфотографированный на одной фотопластинке с применением ступенчатого сектора и без него. [10] |
А, что позволяет производить измерение наж-ных линий углерода, фосфора, серы и селена, которые для измерений обычными приборами недоступны. Для работы к далекой ультрафиолетовой области необходимо на пути лучей удалить воздух поскольку он сильно поглощает ультрафиолетовые лучи. Для этого весь спектрометр должен быть помещен в эвакуированную камеру. Этот диапазон спехтра часто называют вакуумным ультрафио-том. [11]
Аналогичная зависимость скоростей прослеживается также в линиях углерода и серы. Природа этой зависимости, однако, другая. Как видно из рис. 3.33 принимаемое в линиях С, S и Н излучение формируется в двух слоях - дальнем и ближнем, находящемся впереди НП-области. При этом в ближнем слое за счет фоновой подсветки НП-области, кроме спонтанного, формируется также индуцированное излучение. С длиной волны яр-костная температура области НИ в континууме быстро растет и вклад индуцированного излучения в общую интенсивность линии увеличивается. По этой причине на более высоких номерах переходов происходит уменьшение наблюдаемой скорости в РРЛ углерода и серы: передние, приближающиеся к наблюдателю слои С и S играют все большую роль в формировании линий. [12]
Выявить вклад излучения Кае А в уширение линий углерода прямым путем, по кривой AV /, / () ( см. рис. 3.38), и тем самым внести поправку на электронную плотность области СП не представляется возможным. Уширение из-за соударений и уширение излучением имеют близкие зависимости от номера уровня и при имеющихся ошибках измерений разделить обе составляющие нельзя. Однако интенсивность РРЛ углерода весьма критична к электронной плотности. При уменьшении Ne величина коэффициента ( 3 и его зависимость от п существенно увеличиваются, что соответственно изменяет зависимость интенсивности линий углерода от номера уровня. [13]
Такая модель согласуется с измеренными значениями ширин линий углерода, когда / кас 0 83 / г, что имеет место при расположении области СП на расстоянии - 150 пк от Кас А. Однако, как видно из рисунка, расхождения с измерениями интенсивости весьма существенны. Принципиальным является заметное расхождение места пересечения кривой нулевого уровня, когда линии излучения переходят в линии поглощения. [14]
![]() |
Концентрации многоатомных ионов графита до отжига ( / и после отжига при температуре 1600 С в течение 4 час. ( 2. [15] |