Линия - углерод - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Человек, признающий свою ошибку, когда он не прав, - мудрец. Человек, признающий свою ошибку, когда он прав, - женатый. Законы Мерфи (еще...)

Линия - углерод

Cтраница 1


Линии углерода с наиболее высокими на сегодняшний день уровнями переходов были приняты в Харькове на радиотелескопе УТР-2. На рис. 2.39 показана усредненная спектрограмма линий углерода С7б4о С7б8о, полученная Коноваленко ( 1990) в диапазоне 14 7 МГц в направлении на Кассиопею А.  [1]

Ширина линии углерода в направлении Кае А увеличивается с ростом п, особенно, на низких частотах.  [2]

А налагается линия углерода 2641 44 А.  [3]

4 Отношения, сформированные по наблюдаемым интенсивностям РРЛ С56а и ИК-линий тонкой структуры СП ( 158мкм, OI ( 146мкм, OI ( 63 мкм в зависимости от плотности NH и температуры. Точка пересечения двух кривых определяет температуру и плотность СП-областей в NGC2024 и W3. [4]

Отношение интенсивностей ИК линий углерода и кислорода имеет другую зависимость.  [5]

6 Зависимость логарифмов ин-тенсивностей линий С III 2296 86 и Fe III 2295 86 и интенсивности фона от содержания углерода для низколегированных сталей ( а и сталей с высоким содержанием хрома ( б. [6]

Как видно из рисунка, интенсивность линий углерода практически не зависит, а интенсивность фона только слегка зависит от содержания хрома в сталях, в то время как интенсивность линий железа зависит от содержания и углерода и хрома.  [7]

8 Часть масс-спектра окиси магния. [8]

Утверждают, что помех со стороны линий углерода не возникает и что влияние графита на работу искры достаточно постоянно. При длительных экспозициях, однако, кластеры углерода ( например, до С16) могут вызвать помехи.  [9]

10 Типичный спектр, сфотографированный на одной фотопластинке с применением ступенчатого сектора и без него. [10]

А, что позволяет производить измерение наж-ных линий углерода, фосфора, серы и селена, которые для измерений обычными приборами недоступны. Для работы к далекой ультрафиолетовой области необходимо на пути лучей удалить воздух поскольку он сильно поглощает ультрафиолетовые лучи. Для этого весь спектрометр должен быть помещен в эвакуированную камеру. Этот диапазон спехтра часто называют вакуумным ультрафио-том.  [11]

Аналогичная зависимость скоростей прослеживается также в линиях углерода и серы. Природа этой зависимости, однако, другая. Как видно из рис. 3.33 принимаемое в линиях С, S и Н излучение формируется в двух слоях - дальнем и ближнем, находящемся впереди НП-области. При этом в ближнем слое за счет фоновой подсветки НП-области, кроме спонтанного, формируется также индуцированное излучение. С длиной волны яр-костная температура области НИ в континууме быстро растет и вклад индуцированного излучения в общую интенсивность линии увеличивается. По этой причине на более высоких номерах переходов происходит уменьшение наблюдаемой скорости в РРЛ углерода и серы: передние, приближающиеся к наблюдателю слои С и S играют все большую роль в формировании линий.  [12]

Выявить вклад излучения Кае А в уширение линий углерода прямым путем, по кривой AV /, / () ( см. рис. 3.38), и тем самым внести поправку на электронную плотность области СП не представляется возможным. Уширение из-за соударений и уширение излучением имеют близкие зависимости от номера уровня и при имеющихся ошибках измерений разделить обе составляющие нельзя. Однако интенсивность РРЛ углерода весьма критична к электронной плотности. При уменьшении Ne величина коэффициента ( 3 и его зависимость от п существенно увеличиваются, что соответственно изменяет зависимость интенсивности линий углерода от номера уровня.  [13]

Такая модель согласуется с измеренными значениями ширин линий углерода, когда / кас 0 83 / г, что имеет место при расположении области СП на расстоянии - 150 пк от Кас А. Однако, как видно из рисунка, расхождения с измерениями интенсивости весьма существенны. Принципиальным является заметное расхождение места пересечения кривой нулевого уровня, когда линии излучения переходят в линии поглощения.  [14]

15 Концентрации многоатомных ионов графита до отжига ( / и после отжига при температуре 1600 С в течение 4 час. ( 2. [15]



Страницы:      1    2    3    4