Cтраница 1
![]() |
Возможные случаи наложения линий друг на друга. [1] |
Линии других элементов обычно обусловлены сопутствующими элементами, которые неизбежно присутствуют в пробе. [2]
Линии других элементов II группы в пламенах не возбуждаются. [3]
![]() |
Зависимость интенсивности от концентрации для трех линий одного, элемента в одной и той же пробе. [4] |
Внутренним стандартом может служить линия другого элемента, взятая из того же спектра, или соседний участок фона. [5]
![]() |
Внешний вид спектропроектора ПС-18. [6] |
Спектральные линии одного элемента могут перекрываться линиями других элементов. Поэтому при помощи атласа следует определить длину волны анализируемой линии и установить, каким элементам она может принадлежать. [7]
![]() |
Схема испарителя. [8] |
Если последняя линия какого-либо определяемого элемента перекрывается линией другого элемента, иногда помогает фракционное испарение пробы, которое лучше всего осуществляется тоже в дуговом разряде. [9]
На выбранные для анализа линии не должны накладываться линии других элементов. [10]
Если на единственную пригодную аналитическую линию определяемого элемента накладывается линия другого элемента, присутствующего в пробе, то переход к интенсивностям необходим. Он дает возможность исключить из суммарной интенсивности интенсивность мешающей линии и построить правильный градуировочный график. Метод такого исключения состоит в предварительном измерении относительной интенсивности накладывающейся линии и гомологичной с ней другой линии, принадлежащей тому же элементу, что и мешающая линия. [11]
![]() |
Характерные типы электродов, использующихся в спектральном анализе, , . [12] |
Данные об аналитических линиях приведены в справочных таблицах; там же указаны линии других элементов, которые находятся вблизи данной аналитической линии и могут помешать ее обнаружению. [13]
Если необходимо проводить качественные определения с максимальной чувствительностью и последняя линия маскируется линией другого элемента, то для устранения наложений иногда приходится прибегать к увеличению разрешающей спо-собности прибора. [14]
Следует иметь в виду, что на последние линии искомого элемента могут налагаться линии других элементов. В этом случае пользоваться последними линиями невозможно и приходится выбирать другие - более слабые, но свободные от помех. Менее чувствительные линии служат для контроля правильности обнаружения и даже для ориентировочной оценки количественного содержания элемента в исследуемом образце. В рекомендуемых таблицах спектральных линий указывается концентрация элемента, при которой линии появляются в спектре. [15]