Широкая линия

Cтраница 1

Широкие линии чаще всего наблюдаются в кристаллах, где подвижность отдельных ядер незначительна и, следовательно, время корреляции т с ( см. § 4 и 6) велико. Поэтому эффекты движения ядер, обсуждавшиеся в § 4, не оказывают в этом случае влияния на форму линии поглощения. [1]

Спектр ЭПР иона Ti2 в ZnS с тетраэдрической симметрией при. [2]

Широкая линия аналогична соответствующей линии на рис. 11 - 12; узкие линии СТС соответствуют двухквантовым переходам. Центральная линия соответствует ю, №, MTi. Центральный секстет возникает от ядра 67Zn ( природное содержание 4 12 %, / s / z) как ближайшего соседа. [3]

Спектр некогерентного квазиупругого рассеяния нейтронов, полученный для высушенного при 220 С образца ( 70 59 А 1.| Тот же спектр, что и на, но для вымоченного в воде образца ( ( / 0 59 А -. [4]

Широкая линия на спектре рис. 28.12 представляет суперпозицию двух или нескольких лоренцевых кривых. Наиболее широкая компонента имеет ширину около 100 мкэВ, что соответствует - 10-и с. Эта линия может появиться в результате низкотемпературного движения, обнаруженного при спин-решеточной релаксации методом ЯМР. По данным ЯМР, время, характеризующее этот тип движения при экстраполяции к комнатной температуре, равно - 2 4 - 10-и с. [5]

Широкие линии представляют собой неразрешенные () - ветви перпендикулярной полосы. Колебание v a возбуждено в случае полосы 1978 А, приведенной на фиг. [6]

Широкая линия связей J3 - CH не расщеплена. По-видимому, колебания связей Р - СН имеют очень близкие частоты. [7]

Центральная широкая линия разрешается в спектр, в котором проявляется взаимодействие с двумя эквивалентными катионами металла. [8]

Спектр ЭПР ионов 2 в KI при 4 К и частоте 9390 МГц для четырех ориентации магнитного поля в плоскости ( 100. Здесь 0 соответствует. [9]

Широкую линию около 3 4 кГс дает дефект другой природы. Положения линий при 00 и v9 390 ГГц равны примерно 2732 и 4128 Гс, тогда как при 945 они составляют 2190, 3221 и 4099 Гс. Ширины линий сильно анизотропны из-за наличия неразрешенного сверхтонкого расщепления на ядрах матрицы. При произвольной ориентации наблюдаются шесть линий. [10]

Причем широкая линия обусловлена протонами молекул кристаллизационной воды, а узкая - протонами Н внешней сферы комплексной кислоты. [11]

Такие сравнительно широкие линии уже зачастую не удовлетворяют требованиям, которые предъявляются к конфигурации тонких пленок. [12]

Для широких линий точность определения длины волны ниже, чем для узких, так как при измерении расстояния между линиями трудно определить положение центра широкой линии. Поэтому спектр фотографируют при узкой щели спектрографа и в качестве нормалей выбирают наиболее узкие и резкие линии. [13]

ЯМР широких линий и в ЯМР металлов, но в целом данный стандарт не охватывает этих областей. Данный вариант не включает определений, используемых для двойного резонанса и для экспериментов во вращающейся системе координат. [14]

ЯМР широких линий и затрудняет получение релаксационных данных. Метод спин-эхо и нулевой метод был использован для измерения времени релаксации D2O на различных пористых стеклах. Оказалось, что на времена релаксации влияет величина поверхности, но не влияет природа поверхности. [15]

Страницы: 1 2 3 4