Интерференционная линия
Cтраница 1
Интерференционная линия 211 имеет значительное и притом неодинаковое уширение во всех образцах. Это показывает, что хромовое покрытие находится под действием больших внутренних напряжений II рода. [1]
Интерференционные линии были очень широкими, и идентификация изучавшейся структуры со структурой f - Al2O3 представляла известные трудности, которые, возможно, в упомянутой работе [11] не были преодолены. [2]
 |
Изменение раз. меров бло-ков D и микродеформаций решетки 8 карбонильного железа в зависимости от температуры его отжига. [3] |
Интерференционные линии а-феррита на рентгенограммах порошка карбонильного железа весьма сильно размыты. [4]
Смещение интерференционных линий на рентгенограмме связано с рядом особенностей структурного состояния материала. В первую очередь оно обусловлено закономерностями отражения рентгеновских лучей от атомных плоскостей в линейно напряженном поликристаллическом агрегате. Стандартный метод определения суммы ( Гц сга - метод обратной съемки с эталоном, период решетки которого известен. Определение межплоскостного расстояния при четырех различных положениях рентгеновского луча по отношению к поверхности исследуемого образца позволяет раздельно оценить главные напряжения. [5]
Индексы интерференционных линий находят в справочных таблицах. В этом случае величина а для данного вещества берется из справочника. [6]
Вид интерференционных линий, полученных при съемке образцов меди, упрочненных взрывом и прокаткой, одинаков - линии рентгенограммы сплошные. Это указывает на отсутствие существенных различий в разориентировке блоков для меди, упрочненной взрывом и прокаткой, а также на более равномерный характер деформации ее кристаллов, чем у железа. Последнее вообще свойственно металлам с решеткой в виде гранецентрированного куба. [7]
Расширение интерференционных линий может вызываться мелкими размерами кристаллитов или нарушениями кристаллической решетки. При наличии в молекуле целлюлозы посторонних групп может нарушаться кристаллическая решетка. Являются ли причиной расширения интерференционных линий дефекты кристаллической решетки или это расширение обусловлено мелкими размерами кристаллитов, в настоящее время еще недостаточно выяснено. [8]
Размытие интерференционных линий вызвано [6]: а) немонохроматичностью рентгеновского излучения; б) геометрическими условиями рентгенографирования; в) напряжениями II рода; г) дисперсностью блоков когерентного рассеяния; д) тетрагональностью решетки мартенсита; е) неоднородностью твердого раствора углерода в а-железе. [9]
Уширение интерференционных линий от кристаллографической плоскости ( 110) определяется главным образом тетрагональностью мартенсита, в то время как уширение линии от плоскости ( 211) вызвано в основном дисперсностью блоков когерентного рассеяния. [10]
Видность интерференционных линий спеклов, обусловленная различием в пропусканиях 7 и Г2, в результате двух экспозиций можно определить следующим образом. [11]
На интерференционных линиях железа, упрочненного взрывом, в отличие от сплошных интерференционных линий при упрочнении прокаткой заметны отдельны рефлексы. Это различие, очевидно, связано с тем, что при упрочнении прокаткой максимальная разо-риентировка блоков больше, чем после упрочнения взрывом. Подобное явление было отмечено в других работах при сравнительном изучении тонкой структуры железа, упрочненного прокаткой и закалкой. [12]
Семь рядов интерференционных линий соответствуют распределению полос, получаемому с семью различными монохроматическими составляющими белого света. Следуя по вертикалям этой диаграммы, получаем верхний цвет путем вычитания из белого цвета всех монохроматических полос в соответствующем процентном отношении. [13]
Уменьшение ширин интерференционных линий свидетельствует об уменьшении остаточных микродеформаций кристаллической решетки. Например, уже при травлении как стали, так и титанового сплава на глубину более 10 мкм полуширины рентгеновских линий остаются неизменными. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5