Интерференционная линия

Cтраница 3

По относительному изменению ширин интерференционных линий ( см. рис. 61) на рентгенограммах можно ориентировочно оценить знак и уровень остаточных напряжений в шлифованных лопатках. Как известно [4, 80], при шлифовке на поверхности создаются остаточные напряжения растяжения. [31]

Являются ли кольца Ньютона интерференционными линиями равного наклоня или линиями равной толщины. [32]

А уже при комнатной температуре интерференционные линии оказываются чрезмерно слабыми. [33]

Рентгенограммы поверхностных слоев латуни ЛбЗ после трения в глицерине в течение 17 ч ( а и 40 ч ( б. [34]

На рис. 61, а интерференционные линии медной пленки слабые; толщина пленки 0 3 - 0 5 мкм. На рис. 61, б отражения от плоскостей меди значительно сильнее основных линий латуни; толщина пленки 1 5 - 2 0 мкм. [35]

НО) относительно центра тяжести интерференционной линии ( 101) ( 011) - ( 110) эталона. [36]

Изменение ширины интерференционной линии ( 311 в слоях меди различной толщины в зависимости от времени испытания т.| Зависимость размера блоков Ь в слоях различной толщины от времени испытания т медных образцов. [37]

Полученный экспериментальный результат падения ширины интерференционных линий указывает на минимальное число дислокаций, присутствующих в тонком поверхностном слое меди, испытанной на трение. Таким образом, становится очевидным, что при трении в условиях ИП не происходит накопления дислокаций, приводящих со временем к усталостному разрушению поверхностных слоев. [38]

На первой фотографии мы видим систему интерференционных линий в виде парабол, возникающих вследствие интерференции падающих и отраженных ( рассеянных) волн перед цилиндром. Ясно видно, как в результате дифракции на цилиндре волны проходят по оси в область тени, которая почти совсем отсутствует на второй фотографии, где диаметр цилиндра примерно равен длине ультразвуковой волны. В результате дифракции за цилиндром возникает система гиперболических интерференционных линий. Приведенные фотографии имеют много общего с фотографиями дифракции на щели и препятствии волн на поверхности воды ( см. гл. [39]

Написав уравнение ( 1) для интерференционных линий ( 111) 7 ( 101) е-фазы находим отношение интенсивностей этих фаз. [40]

С увеличением температуры закалки уменьшается высота интерференционных линий и увеличивается их ширина; отпуск приводит к увеличению высоты и уменьшению ширины линии при соответствующих температурах закалки; с увеличением температуры отпуска при постоянной температуре закалки увеличивается высота и уменьшается полуширина основания интерференционных линий. [41]

Кривые изменения физической ширины рентгеновских линий по глубине зоны деформации при трении меди в среде глицерина. [42]

На рис. 30 приведена зависимость ширины интерференционной линии Рощ в поверхностных слоях различной толщины от времени испытания образцов при трении. В самом начале испытания ширина линии определяется давлением, вызывающим изменение структуры предварительно отожженного металла. При этом, как и на рис. 29, ширина линий изменяется тем больше, чем тоньше исследуемый поверхностный слой. При дальнейшем испытании изменение ширины линии в различных слоях происходит по-разному. [43]

Зависимость величины среднего угла разориентации кристаллитов фср от степени вытяжки при различных температурах вытяжки ( цифры на кривых.| Зависимость показателя двойного лучепреломления волокон Дп от степени вытяжки при различных температурах ( цифры на кривых.| Дифрактограммы волокон, вытянутых при 20 С. [44]

Об этом свидетельствует сильное увеличение ширины интерференционных линий кристаллографических плоскостей ( НО), ( 040) и ( 130), смещение их максимумов, а также рост интенсивности рассеянного рентгеновского излучения в области углов, лежащих между рассматриваемым. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5