Спектральная линия - элемент
Cтраница 1
Спектральные линии элементов ( качественный анализ) в полученном спектре идентифицируют относительно спектра известного элемента ( обычно железа), фотографируемого рядом со спектром анализируемого вещества. В специальных атласах спектральных линий приведены фотографии спектров железа, где относительно спектральных линий железа указано положение спектральных линий всех элементов с их длинами волн. Для проведения качественного анализа используют спектропроекторы или измерительные микроскопы. Количественный анализ проводят по результатам измерения относительных почернений спектральных линий гомологической пары и их сравнением с соответствующими величинами стандартных образцов. Почернения спектральных линий измеряют при помощи микрофотометров фотоэлектрическим способом. [1]
Поэтому спектральные линии элементов, отмеченных звездочкой, появляются в дуге одновременно с линиями, расположенными как в правой, так и в левой частях рядов. [2]
Интенсивность спектральных линий элементов, имеющих небольшое сродство к кислороду или же склонных к карбидообразованию, в процессе обыскри-вания возрастает. Поэтому для получения правильных результатов анализа при съемке спектров металлов и сплавов необходимо перед экспонированием проводить предварительное обыскривание или обжиг при закрытой щели спектрографа. Так как условия возбуждения спектральных линий могут изменяться в каждом опыте из-за колебания напряжения в сети или изменения состояния поверхности электродов в процессе экспозиции, то измерение абсолютной интенсивности спектральных линий не может быть основанием для количественного анализа. [3]
Относительная чувствительность спектральных линий элемента, входящего в состав двукомпонентного сплава в небольшом количестве, практически не зависит от рода основного вещества. [4]
Наибольшее усиление спектральных линий элементов, присутствующих в пробе в следовых количествах, наблюдается в случае наложения на дуговой разряд неоднородного магнитного поля. [5]
В атласах спектральных линий элементов на планшетах имеется изображение спектра железа, под которым находится шкала длин волн. Над спектром железа стрелками отмечено положение характерных спектральных линий элементов. Над стрелками расположены символы элементов. [6]
Рассмотрим изменение интенсивности спектральных линий элементов с возрастанием напряженности магнитного поля. Из многих публикаций известно, что интенсивность спектральных линий сначала возрастает до определенного значения, а затем падает. При этом отмечено, что при применении соленоидов скорость вращения облака плазмы увеличивается. Такой ход процесса следует связать, с одной стороны, с уменьшением атомной плотности в результате роста объема плазмы при наложении магнитного поля, что приводит к усилению интенсивности спектральных линий, а с другой стороны - к увеличению частоты неупругих столкновений из-за усиления вращения облака плазмы, вызывающих тушение возбужденных атомов. Подтверждением такого заключения следует считать тот факт, что данное влияние не зависит от природы изучаемых элементов. Причем природа элемента сказывается на относительной интенсивности. Таким образом, при рассмотрении механизма действия магнитного поля необходимо учитывать роль столкновений. [7]
 |
Оптическая схема двойного спект-ропроектора ДСП-1. [8] |
Для расшифровки спектрограммы используют атлас спектральных линий элементов. Спектр железа на спектрограмме, спроецированный на экран, совмещают со спектром железа на планшете. Длину волны линии определяют непосредственно по атласу. [9]
Сведения о длине волны, интенсивности спектральных линий элементов с указанием источника возбуждения и характера линий приведены в специальных таблицах и атласах. [10]
Сведения о длине волны, интенсивности спектральных линий элементов с указанием источника возбуждения и характера линий приведены в специальных таблицах и атласах. [11]
 |
Схематический вид неоднородного ( а, однородного ( б и вращающего ( в магнитных полей. [12] |
Из данных таблицы следует, что усиление спектральных линий элементов зависит от потенциала ионизации элемента для всех типов магнитного поля. Интенсивность спектральных линий микроэлементов может повышаться в результате пространственного изменения температуры и электронного давления плазмы, а также изменения распределения в ней микроэлементов. На рис. 2.23 приведено радиальное распределение температуры и электронного давления в горящей дуге и в дуге под давлением различных типов магнитного поля. [13]
В основе количественного анализа лежит зависимость интенсивности спектральных линий элементов от их концентрации в образце. Для установки количественного содержания элемента в сплаве пользуются оценкой относительной интесивности анализируемой спектральной линии и линии сравнения. Метод количественного анализа с помощью стилоскопа использует свойства глаза - его высокую чувствительность к установлению равенства ( неравенства) интесивностей соприкасающихся световых полей. [14]
Метод фотометрии пламени основан на непосредственном измерении интенсивности спектральных линий элементов, возбуждаемых в пламени. [15]
Страницы: 1 2 3 4