Спектральная линия - элемент
Cтраница 2
Из этого соотношения легко можно определить область расположения спектральных линий элемента. [16]
Для определения качественного состава анализируемых, проб используют атласы спектральных линий элементов. Съемку спектра пробы проводят рядом со спектром железа: который является стандартом длин волн. С помощью атласа спектра железа определяют длины волн других элементов на исследуемой спектрограмме. [17]
Допустим, что покрытие АВ является отнб-сительно непрозрачным для спектральных линий элемента Л, но относительно прозрачно для линий элемента В. Тогда по мере увеличения толщины покрытия при неиз-менном составе оно становится бесконечно толстым для линий элемента Л, и при этом интенсивность 1А становится постоянной. Интенсивность / в продолжает увеличиваться с ростом толщины покрытия до тех пор, пока не будет достигнуто значение непрозрачной ( бесконеч-ной) толщины для линий элемента В. После этого отношение IA / IB становится постоянным. Таким образом, отношение IA / IB может зависеть от толщины покрытия при неизменном его составе. Этот эффект становится наиболее заметным при значительном отличии массовых коэф-фициентов поглощения для спектральных линий двух компонентов, составляющих покрытие. Толщина покрытия на керамических подложках обычно больше, чем ве-личина, необходимая для полной непрозрачности линий NbKa и 5пя - а. Толщина покрытия на металлических под-ложках не достигает этой величины для обоих элементов, однако покрытие равномерно по толщине, что значительно уменьшает ошибку. [18]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность спектральных линий элементов зависит от концентрации в пробе этих элементов. [19]
Метод количественного анализа основан на том, что интенсивность спектральных линий элементов зависит от их концентрации в пробе. Зависимость между интенсивностью линии примеси в спектре пробы и ее концентрацией устанавливают при помощи эталонных образцов. [20]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность спектральных линий элементов зависит от концентрации в пробе этих элементов. [21]
Вместе с тем, предложенный авторами оптико-электрический способ выделения спектральной линии элемента из спектра анализируемого образца оригинален и несомненно найдет свое аналитическое приложение. [22]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность спектральных линий элемента зависит от концентрации этого элемента в пробе. Зависимость интенсивности спектральной линии от концентрации имеет сложный характер. [23]
На картах атласа изображены участки спектра железа и указано расположение спектральных линий элементов. Атлас дает возможность проводить грубую количественную оценку содержания элемента в образце. Для этой цели линии элементов расположены в картах атласа на разных уровнях по высоте с указанием чувствительности по 12-балльной шкале. Их чувствительность оценивается в 10 - 12 единиц. [24]
В основу современного качественного спектрохимического анализа положены различного рода таблицы спектральных линий элементов, которые содержат указания о длинах волн спектральных линий, наблюдаемых в спектрах химических элементов. [25]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность I спектральных линий элементов зависит от концентрации С в пробе этих элементов. [26]
 |
Оптическая схема стилоскопа СЛП-2. [27] |
В основе количественного анализа лежит зависимость интенсивности ( освещенности) спектральных линий элементов от их концентрации в образце. С интенсивностью линии сравнения сопоставляется интенсивность также специально подобранной линии анализируемого элемента. Оценка сравнения освещенностей линий производится глазом и поэтому анализ является полуколичественным. Погрешность анализа составляет примерно 50 % от содержания элемента в образце. В наиболее благоприятных случаях погрешность может быть 10 - 20 % от общего содержания. Продолжительность анализа образца на 6 - 7 элементов составляет 2 - 3 мин. Для проведения качественного анализа имеются специальные атласы спектров. [28]
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивность I спектральных линий элементов зависит от концентрации С в пробе этих элементов. [29]
При определении величины относительной интенсивности линий учитывают закономерное изменение интенсивностей спектральных линий элементов по спектру. [30]
Страницы: 1 2 3 4