Более интенсивная линия

Cтраница 2

Если в спектре пробы обнаружена линия, положение которой удовлетворяет пропорции, то остается ее отождествить точно так же, как и в предыдущих случаях, с учетом возможных наложений и путем проверки наличия в спектре более интенсивных линий того же элемента. Если аналитик располагает достаточно чистыми элементами, полезно проверить расшифровку, фотографируя при помощи диафрагмы спектры этих элементов рядом с исследуемым спектром. Эти контрольные спектры нужно возбуждать в том же источнике света, с которым был получен исследуемый спектр. [16]

Из таблицы видно, что фотоэлектрическим методом можно вполне надежно определить 1 % 2 2 3-триметилбутана в ССЦ, тогда как фотографический метод не позволяет проводить анализ 2 5 % смеси 2 2 4-триметилпентана в цик-логексане даже по более интенсивной линии. [17]

Влияние фона на градуировочный график. Пунктир - без учета фона, сплошная линия - с учетом фона [ III, 164 ]. [18]

Как мы видели далее, роль самопоглощения проявляется при тем меньших значениях концентрации, чем больше абсолютная интенсивность линии. Более интенсивные линии испытывают насыщение при более низких концентрациях, чем линии, менее интенсивные. Отсюда, таким образом, вытекает, что с точки зрения достижения возможно большей концентрационной чувствительности анализа выгодно использовать по возможности слабые линии. Однако, использование очень слабых линий ограничивается фоном непрерывного спектра. [19]

Атомы элементов первой и второй побочных групп периодической системы Д. И. Менделеева имеют почти такое же строение нижнего электронного терма, как и элементы соответствующих гла. Наи более интенсивные линии расположены в ультрафиолетовой области спектра. [20]

Среди переходов с одним и тем же конечным энергетическим уровнем переходам с большей вероятностью соответствует относительно большее поглощение. Таким образом, на более интенсивных линиях больше сказывается поглощение. [21]

Правильное отождествление линий возможно лишь после определения величин Я для всех линий, полученных на спектрограмме. Правильность отождествления проверяют по наличию более интенсивных линий элемента в спектре образца. [22]

Зависимость величины ошибки А в определении относительной интенсивности линии от отношения почернений линий вспомогательного К х 2-дублета kD ( по данным Протопопова.| Зависимость величины ошибки Д в определении относительной интенсивности линии от отношения почернения линии определяемого элемента к почернению Кх2 - линии вспомогательного дублета. [23]

Для количественного определения содержания элементов по этому методу в первую очередь необходимо определить полуширину Г используемых для проведения анализа рентгеновских линий элементов. Использование для определения величины Г более интенсивной линии Ка - дублета мало целесообразно, так как при таком способе определения полуширины можно легко допустить большую ошибку. [24]

Правильное отождествление линий возможно лишь после определения величин А, для всех линий, полученных на спектрограмме. Правильность отождествления проверяют по наличию более интенсивных линий элемента в спектре образца. [25]

В силу этого соотношения, в дублетах главной серии коротковолновая компонента вдвое интенсивнее длинноволновой, а в дублетах 2 - й побочной серии, наоборот, длинноволновая компонента вдвое интенсивнее коротковолновой. На рис. 33, 34, 35 более интенсивные линии изображены широкими черточками. [26]

В спектре излучения каждого элемента ин тенсивности спектральных линий различны. Это свойство можн использовать для количественного определения элементов. На более интенсивные линии появляются при самых малых количе ствах элемента в пробе. С увеличением концентрации элемент эти линии усиливаются и появляются другие менее интенсивные Экспериментально можно установить связь между наличием те или иных спектральных линий и концентраций элемента. [27]

Излучение, рассеянное под прямым углом к падающему свету, направляется в спектрограф, обладающий высоким разрешением. Если образец обладает рамановской активностью, результирующая спектрограмма состоит из исключительно интенсивной линии, соответствующей частоте падающего света ( рэлеевское рассеяние), и очень близко расположенных к ней других линий. Со стороны меньшей частоты находятся более интенсивные линии, которые называются стоксовыми линиями. Относительно слабые линии, соответствующие более высокой частоте, называются, антистоксовыми линиями. [28]

Основные погрешности возникают вследствие необходимости использования линий с большой разностью верхних уровней. При этом линия с более высоким верхним уровнем неизбежно будет иметь весьма слабую интенсивность, затрудняющую точное измерение, особенно при наличии фона сплошного спектра в пламени. При повышении интенсивности этой линии с ростом концентрации используемых атомов возникает погрешность вследствие самопоглощения второй, более интенсивной линии. [29]

Другим важным эффектом, который может исказить результаты, является случайное расширение массовых линий наиболее распространенных изотопов основы. Это явление, называемое обычно пространственно-зарядным уширением, связывают в основном с электростатическим отталкиванием ионов при прохождении их через масс-спектрометр; однако возможно и дополнительное влияние нарастания заряда на фотопластине, что будет обсуждено в разд. Линии изотопов и примесей, ионы которых в пучке преобладают, могут уширяться, тогда как даже более интенсивные линии других изотопов основы, отстоящие по массе на 3 - 4 единицы, не уширяются. [30]

Страницы: 1 2 3