Искровая масс-спектрометрия
Cтраница 3
Для элементного анализа как основной выбран метод искровой масс-спектрометрии, также с обработкой результатов на ЭВМ. Соответствующие комплексы уже отработаны; ими будут оснащены основные контрольные лаборатории, охватывающие всю страну. [31]
Практически во всех случаях при использовании фотопластинок в искровой масс-спектрометрии регистрируется ореол в районе линий изотопов основы уже при экспозициях порядка 10 - 2 нк и выше. [32]
Среди высокочувствительных методов анализа разнообразных веществ своими возможностями выделяется искровая масс-спектрометрия. Этот метод наиболее интенсивно развивается в последнее десятилетие после освоения производством масс-спектрометров с двойной фокусировкой и искровым ионным источником. Принцип двойной фокусировки ионов ( электростатическим и магнитным полями) был предложен в 1934 г. Мат-таухом - Герцогом, а в 1935 г. А. [33]
В предыдущих разделах было показано, что в методе искровой масс-спектрометрии существует много параметров, которые могут по-разному влиять на образование, пропускание и детектирование ионов различных элементов; однако, если параметры работы масс-спектрометра контролируются достаточно строго, относительные чувствительности элементов для данной основы остаются постоянными. [34]
 |
Схема электролизной ячейки. [35] |
Благодаря высокой чувствительности метод изотопного разбавления в сочетании с искровой масс-спектрометрией часто применяется для определения субмикрограммовых количеств элементов, поэтому необходимо избегать загрязнения определяемыми элементами во время подготовки образцов для анализа. Чтобы обеспечить зто условие, необходимо выбрать такой метод, в котором используются минимальные число операций, число и номенклатура химикатов, число и размеры контейнеров. Все химикаты должны иметь уровень загрязнений значительно ниже измеряемого, что часто требует дополнительной очистки. Контейнеры и ион-но-обменные смолы надо выбирать и очищать очень тщательно, чтобы исключить вносимые примеси. Уровень загрязнений, вводимых в течение всех операций, можно легко определить путем масс-спек-трометрического анализа по холостому опыту. [36]
Лейпцигер, 1965) был использован в сочетании с методом искровой масс-спектрометрии. [37]
Предварительное сравнение геологических стандартов между собою показало, что в искровой масс-спектрометрии различие в их природе не сказывается на правильности получаемых результатов, поэтому любой из них может быть использован для оценки состава природных образцов. [38]
Другие элементы, главным образом малых концентраций, определенные методом искровой масс-спектрометрии, сравнивались с данными оптической спектроскопии или нейтронноактп-вационного метода, и в большинстве случаев совпадение было хорошим. [39]
В настоящее время появились сообщения [21, 22] об успешном применении в искровой масс-спектрометрии электрических детекторов ионов, в качестве которых могут быть использованы электрометры или электронные умножители с открытым входом. [40]
Пластины илфорд Q2 - едва ли не самые распространенные детекторы ионов в искровой масс-спектрометрии - представляют собой хороший компромисс между чувствительностью и размером зерен. Радлоф ( 1962) показал, что эта эмульсия подчиняется закону обратимости, поэтому отклик пленки на данную экспозицию не зависит от времени, необходимого для ее накопления. [41]
На графике виден максимум вблизи 20 - 25 %, обычный для искровой масс-спектрометрии без учета негомогенности образца. [43]
В связи с определением состава тонких слоев наряду с известными аналитическими характеристиками искровой масс-спектрометрии ( диапазон регистрируемых примесей, чувствительность, правильность и точность результатов) большое значение приобретает пространственное разрешение. Минимально возможная толщина слоев, которые могут быть проанализированы с помощью искрового ионного источника, определяет возможность применения масс-спектрометрического метода вакуумной искры к послойному анализу тех или иных объектов. [44]
В предыдущих разделах была продемонстрирована возможность получения количественных результатов зондовым методом в искровой масс-спектрометрии благодаря использованию для анализа компактных диэлектриков. [45]
Страницы: 1 2 3 4