Массивный материал
Cтраница 3
Пористый катализатор изготовляют из мелких частичек склеиванием, слипанием, спеканием или из массивного материала, из которого удаляют продукты разложения, в результате чего образуются пустоты, каналы и полости. Размеры элементов пористой структуры составляют от десятков до десятков тысяч ангстремов, а размеры зерен - миллиметры, т.е. зерно катализатора содержит 10 - 101 мелких частиц. Поэтому можно применить общие статистические подходы к описанию процессов и рассматривать катализатор как квазигомогенную среду, где вещество превращается со скоростью w, моль / см3 с и переносится диффузией с эффективным коэффициентом Дэф. [31]
Так, при толщине пленки 1 мкм подвижность уменьшается до половины значения в массивном материале, а дальнейшее снижение толщины ведет к еще более резкому падению подвижности [ 31 из-за влияния толщины на свободный пробег носителей зарядов. При уменьшении диаметра ЦМД детектирование проходит с гораздо меньшей эффективностью и требует подачи на вход детектора большей мощности, которую необходимо эффективно рассеивать, так как температурная чувствительность сопротивления пленок InSb высока и составляет 2 % на 1 С при комнатной температуре. Другим принципиальным ограничением для использования датчиков Холла является высокий уровень шума. Наконец, конструктивным недостатком такого детектора является то, что это четы-рехполюсный элемент, требующий четыре вывода и двумерного расширения ЦМД при детектировании. Вышеперечисленные недостатки препятствуют использованию таких датчиков для считывания в средах с диаметром ЦМД менее 10 мкм. [32]
Так как у большинства материалов в тонких слоях удельное сопротивление иное, чем у массивного материала [80], то можно предполагать, что в малых сечениях тонких проволок, применяемых для намотки решетки тензорезисторов, могут наблюдаться удельные сопротивления, отличные от удельных сопротивлений проволок больших диаметров. [33]
Рассмотрим взаимодействие лучей в некоторой точке X, рассеянных двумя точками А и В массивного материала. Если АХ отличается от ВХ на Я / 2, то результатом интерференции будет нулевая интенсивность в точке X. При измельчении материала может возникнуть такое положение, когда имеется рассеянный луч АХ от точки А, но точка В попадает в промежуток между составляющими материал частицами. Интенсивность в точке X не равна нулю, она соответствует интенсивности луча АХ. Следовательно, возможно измерение интенсивности при малых углах к падающему лучу. Монохроматический пучок рентгеновских лучей, полученный отражением от монокристалла, дает наилучшие результаты. Чтобы получить достаточно малые углы ( в несколько минут), расстояние от образца до пленки должно быть большим ( 6 м); чем больше частицы, тем больше должен рассеянный луч приближаться к первичному лучу и тем больше должно быть расстояние от образца до пленки. Для измерения интенсивности используется фотографическая регистрация или счетчик Гейгера - Мюллера, снабженный приспособлением для сканирования. Преимуществами счетчика являются более высокая чувствительность, вдвое больший угловой интервал и быстрота отсчетов. [34]
Предполагается, что в пленках могут иметь место все механизмы анизотропии, действующие в массивных материалах, разд. Однако, как будет показано, из-за особенностей физической структуры тонких пленок действие этих механизмов в пленках отлично от их действия в массивных образцах. [35]
Зародыши, состоящие из нескольких частиц, имеют такой же химический потенциал, как и массивный материал. [36]
МАГНИТНЫЕ ПОРОШКИ - порошки ферромагнитных веществ, обладающие магнитными свойствами, отличными от магнитных свойств массивных материалов вследствие зависимости магнитных характеристик, определяемых процессами технического на-магничиаапия, от размера частиц: с уменьшением размера частиц d эти процессы затрудняются, что приводит к росту коэрцитивной силы Яг, а также остаточной намагниченности / г. Значительное увеличение магнитных характеристик наступает при размерах частиц менее 100 и. [37]
Световой микроскоп применяется в основном: а) для получения информации о структуре и составе массивного материала; б) при изучении топографии поверхности и 3) для определения. [38]
Пленки сплавов Nb н V толщиной около 100 нм способны пропускать большие токи, сравнимые с массивными материалами. В пленках существенную роль играют размерные эффекты: зависимость от толщины н размера зерен. [40]
В среде инертного газа возможно получение достаточно чистых пленок тантала с электрическими характеристиками, близкими к характеристикам массивного материала. Этому способствует то, что инертный газ препятствует поглощению свеженапыленной пленкой тантала различных газов, десорбирующихся со стенок камеры и деталей, находящихся внутри нее. Процесс катодного распыления в отличие от термического испарения в вакууме идет при сравнительно низкой температуре испаряющегося материала. [41]
Теперь предположим, что в зоне продуктов реакции содержатся такие же дефекты роста, что и в массивном материале, и поэтому прочности их будут одинаковыми. [42]
Пленки сплава ниобия и ванадия толщиной около 100 нм способны пропускать большие токи, сравнимые с токами через массивные материалы. В пленках существенную роль играют размерные эффекты: толщина пленки и размер зерен. [43]
Материалы, состоящие из волокон или содержащие волокна, могут иметь объемную плотность значительно более низкую, чем плотность массивного материала. Это свойство волокнистых материалов используют для сверхтеплоизоляционных огнеупоров. Применение таких материалов в технике не только способствует уменьшению потерь тепла, но и эффективно решает задачу снижения материалоемкости. [44]
Высокопрочные пленки и пленочные композиции могут быть использованы также в качестве защитных покрытий для повышения усталостной прочности и износостойкости массивных материалов. [45]
Страницы: 1 2 3 4