Проекционный метод - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Какой же русский не любит быстрой езды - бессмысленной и беспощадной! Законы Мерфи (еще...)

Проекционный метод

Cтраница 4


Этим определением подчеркивается факт использования проекционных методов для решения уравнений, описывающих поведение системы автоматического управления.  [46]

Такое погашение удобно для применения проекционных методов.  [47]

Важную роль при исследовании применимости проекционных методов к граничным интегральным уравнениям играют следующие два предложения о возмущении операторов из класса n Ph, Qh вполне непрерывными или малыми по норме операторами.  [48]

Измерение среднего диаметра наружной резьбы проекционным методом осуществляется на универсальном или инструментальном микроскопах с помощью ножей или шарового наконечника. При этом контролируемый объект устанавливают на предметном столике прибора в центрах или призмах.  [49]

Измерение среднего диаметра наружной резьбы проекционным методом производят на универсальном или инструментальном микроскопах с помощью ножей или шарового наконечника. При этом контролируемый объект устанавливают на предметном столике прибора в центрах или призмах.  [50]

51 Схема измерения половины угла профиля резьбы.| Схема измерения шага внутренней резьбы. / - микроскоп. 2 - шкала. 3 - каретка. 4 - рычаг. 5 - измерительный наконечник. 6 - проверяемая деталь. 7 - устройство для закрепления детали. [51]

Средний диаметр наружной резьбы измеряют проекционным методом на универсальном или инструментальном микроскопе с помощью ножей или шарового наконечника.  [52]

При измерении а / 2 бесконтактным проекционным методом колонку микроскопа наклоняют в соответствующую сторону на угол, равный углу подъема винтовой линии резьбы.  [53]

По сравнению с контактный методом фотолитографии проекционный метод более перспективен. Так, например, применение объектива с разрешающей способностью 3000 линий на 1 мм [58] и монохроматизированного ультрафиолетового освещения позволяет получать отдельные элементы полупроводниковых приборов шириной 0 6 мкм при зазоре между ними 0 4 мкм.  [54]

Метод коллокации может быть представлен как проекционный метод, если проектор Qh в пространстве непрерывных функций У задать как оператор, сопоставляющий каждой функции уеУ интерполянт этой функции по системе узлов x N.  [55]



Страницы:      1    2    3    4