Метода - реплика
Cтраница 2
Ширина усов фирмы СТН, измеренная по методу реплик Бон-филдом и Маркгам [4], составляет от 0 2 до 10 мкм. Так как усы имеют либо цилиндрическую, либо ленточную форму, этим размером может быть диаметр цилиндра или один из размеров поперечного сечения ленты. Ширина обычно остается постоянной вдоль длины усов и изменяется от 5 мкм до нескольких миллиметров. Электронный луч просвечивает более тонкие усы ( 1 мкм), тогда как усы больших сечений могут оказаться прозрачными или непрозрачными. [16]
 |
Технические параметры работы плазмотрона. [17] |
Электронно-микроскопические снимки были получены а электронном микроскопе ЭМ-7 по методу платино-угольных реплик. [18]
Структуру поверхности необходимо исследовать непосредственно, используя электронную микроскопию - методы реплик, декорирования и сканирования поверхности. Конечно, получая электронно-микроскопические снимки образцов перед их использованием в качестве катализаторов, на них неизбежно наносят поверхностные загрязнения. Можно исследовать образцы и после реакции, но, учитывая возможность влияния самой реакции на структуру поверхности, исходную структуру следует контролировать на параллельном образце. [19]
При работе с массивными образцами, непрозрачными для электронного пучка, используют косвенный путь и прибегают к методу реплик. [20]
 |
Электронная микрофотография участка поверхности сферолита полиэтилена, полученная Фи. [21] |
Принимая во внимание то обстоятельство, что ламелярные кристаллы растут в радиальном направлении сферолитов, причем шером [1] по методу реплик, молекулярные цепочки ориентированы приблизительно перпендикулярно к поверхности ламелей, можно сделать вывод о том, что ламели, как и в случае монокристаллов, представляют собой кристаллы со сложенными цепями. Следовательно, образование сферолитов возможно в том случае, когда кристаллизация из расплава также протекает по механизму складывания макромолекул, что исключает возможность применения модели бахромчатой мицеллы. По-видимому, если бы другие исследователи обладали интуицией Келлера, то они смогли бы, установив характер молекулярной ориентации в кристаллах полимеров, полученных из расплава, предложить модель складывания цепей еще до того, как были открыты полимерные монокристаллы. [22]
Если толщина пленки допускает пропускание электронов ( менее 200 нм для электронов с энергией 100 кэВ), основные особенности ее структуры можно исследовать методом просвечивающей электронной микроскопии и электронографии. Методы реплик, оттенения или сканирующей электронной микроскопии применимы к пленкам любой толщины. Так, с помощью просвечивающей электронной микроскопии можно измерить размер индивидуальных кристаллитов и по крайней мере больших щелей между кристаллитами, в то время как электрографически удается обнаружить преимущественную ориентацию кристаллитов. На рис. 22 приведены электронно-микроскопический снимок в проходящем свете и электронограмма образца поликристаллической пленки платины с произвольной ориентацией кристаллитов. [23]
Отделенная от объекта реплика должна точно воспроизводить рельеф его поверхности, не иметь собственной структуры, различимой в электронном микроскопе, обладать достаточной контрастностью, механической прочностью и химической стойкостью, устойчивостью к воздействию электронного пучка. В идеале метод реплик должен обеспечить получение изображений столь мелких деталей структуры объекта, которые по своим размерам соответствуют разрешающей способности микроскопа. В действительности же такое соответствие не имеет места, так как наряду с улучшением техники изготовления реплик совершенствуются электронные микроскопы и повышается их разрешающая способность. Все же разрыв здесь в настоящее время является небольшим - разрешение, на микрофотографиях обычно получаемых углеродных реплик достигает 30, а возможно и 20 А. [24]
В этой работе было показано, что ориентация микротрещин может быть отличной от экваториальной, что, по-видимому, является следствием сложного взаимодействия полей напряжений вокруг частиц каучука. Как дополнение к прямому методу и методу реплик для исследования фактических поверхностей разрушения в ударопрочном ПС была использована сканирующая электронная микроскопия. Из рисунка 3.26 [575] видно, что микротрещины ориентированы в основном экваториально вокруг частиц каучука, хотя небольшое их число имеет другую ориентацию, сами частицы каучука сильно деформированы и, кроме того, имеет место незначительная межфазная кавитация. [26]
Значительно расширяет возможности электронной микроскопии в этом отношении метод реплик. Изучение в микроскопе не самих кристаллов, но тонких пленок-отпечатков с них не только позволяет исключить указанные выше недостатки, но и дает возможность включить в круг объектов исследования более массивные образцы - гранулированные цеолиты. [27]
Представляет определенный интерес применение в процессе изучения поверхности усталостного излома одновременно как метода реплик, так и сканирования поверхности электронным лучом, чтр позволяет более правильно расшифровать микрофотографии, полученные этими двумя методами. [28]
Переходные и макропоры гранулированных углей по данным электронномикроскопических исследований представляют собою полости неправильной формы, более близкие к сферам, нежели к длинным капиллярам. На рис. 44 приведен электронномикро-скопический снимок активного угля, полученный в работе Е. А. Леонтьева и В. М. Лукьяновича [5] по методу реплик. На рисунке хорошо видны переходные и макропоры. [29]
Эффективный коэффициент конденсации изменялся от единицы при температуре около 900 К почти до нулевых значений при 1200 К; автор считает, что этот результат находится в разумном соответствии с моделью Бартона, Кабреры и Франка [41] для поверхностной диффузии адатомов к ступеням. При этом, однако, предполагалось, что с изменением температуры расстояние между ступенями остается постоянным, чего не должно быть, если источниками ступеней служат винтовые дислокации. Другая интересная работа Швебеля [181] посвящена детальному изучению морфологии выращенных из пара кристаллов золота; в частности, как показали электронно-микроскопические исследования по методу реплик, центры роста имеют треугольную форму; отсюда следует, что их ступени не служат абсолютным стоком для атомов золота, а вероятность захвата зависит от ориентации ступени. [30]
Страницы: 1 2 3