Метода - вращение
Cтраница 1
Методы вращения применяются тогда, когда вдоль оси головки уже выведено какое-то определенное направление в кристалле. Дифракционный эффект получается при вращении кристалла вокруг этого направления во время съемки. [1]
Методы вращения являются наиболее мощными методами анализа. С их помощью определены весьма сложные структуры. Кристалл освещается сплошным спектром и во время экспозиции неподвижен. [2]
 |
Семейство дифракционных конусов. [3] |
В методе вращения обычно применяются цилиндрические кассеты. Ось кассеты совпадает с осью вращения кристалла. В камере, изображенной на рис. 120 6, кассета удалена; она показана на рисунке справа. [4]
В методе вращения вертикальные плоскости обратной решетки, проходящие через ось вращения, непрерывно меняют свою ориентацию, и, следовательно, говорить о фиксированных линиях пересечения сферы отражения с вертикальными плоскостями не приходится. Кривые Ф const для этого метода никакого реального значения не имеют. Сетка, показанная на рис. 201, представляет интерес главным образом для анализа лауэграмм, снятых в цилиндрической кассете. В методе Лауэ - кристалл расположен неподвижно, что позволяет говорить о линиях пересечения сферы отражения вертикальными плоскостями, проведенными в пространстве обратной решетки. Сетка кривых р const и ср const позволяет определить сферические координаты каждой такой узловой прямой при условии, что полярная координата р отсчитывается от оси цилиндрической кассеты ( бывшей оси вращения), а азимутальная координата ф - от направления первичного пучка. Подробнее этот вопрос будет рассмотрен в главе, посвященной определению ориентации кристалла по лауэграммам ( стр. [5]
В методе вращения строго монохроматический рентгеновский луч направляется на монокристалл, вращающийся вокруг одной из кристаллографических осей. Следовательно, здесь при постоянной А, изменяется угол 0 падения луча на семейство отражающих плоскостей. Дифракционные лучи идут по образующим конусов и попадают на фотопленку, цилиндрически расположенную вокруг монокристалла. Рентгенограмма имеет вид послойно расположенных пятен разной величины и интенсивности. [6]
В методе вращения рентгенограмму получают при постоянной ( характеристической) длине волны излучения анода рентгеновской трубки от монокристалла, вращающегося вокруг какой-либо оси. Съемку осуществляют в камерах вращения, колебания и рентгено-гониометрах с движущейся пленкой. Метод этот применяют для полного определения структуры вещества ( параметры элементарной ячейки, ее тип, симметрия, ординаты атомов в элементарной ячейке. [7]
В методе вращения ( колебания) рентгенограмму получают, используя характеристическое излучение анода рентгеновской трубки, от монокристалла, вращающегося вокруг какой-либо оси. Съемку осуществляют в камерах вращения, колебания и рентге-ногониометрах с движущейся пленкой. Метод этот применяется для полного определения структуры вещества ( параметры элементарной ячейки, ее тип, симметрия, координаты атомов в элементарной ячейке) не только в простых, но и в сложных случаях. [8]
 |
К расчету фактора интегральности в методе вращения. Нулевая слоевая линия. [9] |
В методе вращения интегральная интенсивность определяется временем прохождения узла обратной решетки ( со всем его содержимым) через поверхность сферы отражения. [10]
 |
Схема рентгеносъемки по методу вращения ( а и рентгенограмма вращения монокристалла кварца вокруг оси с ( б. [11] |
В методе вращения кристалла используется монохроматическое излучение с фиксированной длиной волны К и кристалл, вращающийся вокруг одной из своих осей. Регистрация дифракционной картины в этом случае производится, как правило, на цилиндрическую фотопленку, ось которой совпадает с осью вращения кристалла. [12]
Снимается рентгенограмма по методу вращения так, что вдоль пучка и параллельно оси вращения находятся оси четвертого порядка. Определить, сколько ( минимально) и при каких установках ( осях вращения) надо снять рентгенограмм для определения типа решетки Бравэ. [13]
Для обработки по методу вращения протяжки при неподвижной детали шарикоподшипник 1 устанавливают не под опору обрабатываемой детали, а на патроне 2 для крепления протяжки ( фиг. [14]
В описанных выше методах вращения зонда и методе координат измерения проводят при постоянной частоте. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5