Метода - вращение
Cтраница 2
 |
Сравнительная характеристика алгорифмов. [16] |
Рассмотренные алгорифмы, кроме метода вращений, особенно эффективны при решении последовательности спектральных задач, зависящих от некоторого параметра. [17]
Полученная формула пригодна для метода вращения и его разновидностей. [18]
 |
Схема рентгеновского анализа кристаллов по методу неподвижного монокристалла. [. [19] |
Осуществить это можно, применяя методы вращения кристалла или получая снимки с кристаллов в определенных кристаллографических направлениях. [20]
При любом ли выборе барьеров метод вращений будет сходиться асимптотически с квадратичной скоростью. [21]
По идее метод полностью подобен методу вращения внешнего шара ( сы. Однако условия точного расчета и, тем самым, возможность применения этого метода для прецизионных измерений значительно неблагоприятнее. [22]
В [18] приведены программы, реализующие метод вращений Якоби для симметричных матриц, QR-алгоритм и QL-алгоритм, а также QR-алгоритм со сдвигом. [23]
Несколько сложнее дело обстоит в методе вращения. Поскольку вращение кристалла происходит не во всех возможных направлениях, а вокруг определенной оси, в этом случае не все связанные между собой серии плоскостей дадут отражения в одну и ту же точку. Фактор повторяемости в методе вращения определяется числом тех граней простой формы, которые одинаково наклонены по отношению к оси вращения. [24]
 |
Белый ( непрерывный и характеристический ( Ка и / Ср - линии спектры рентгеновского излучения. [25] |
В рентгеноструктурном анализе используется главным образом метод вращения, чаще всего в форме одной из рентгенгониометрических схем. Основное преимущество этого метода заключается в относительной легкости инди-цирования рентгенограмм ( определения индексов pqr каждого фиксируемого дифракционного рефлекса) и в постоянстве длины волны всех дифракционных лучей; его недостаток - в необходимости монокристального образца исследуемого вещества. [26]
 |
Белый ( непрерывный и характеристический ( КЛ и KQ - линии спектры рентгеновского излучения. [27] |
В рентгеноструктурном анализе используется главным образом метод вращения, чаще В сего в форме одной из рентгенгониометрических схем. Основное преимущество этого метода заключается в относительной легкости инди-цирования рентгенограмм ( определения индексов pqr каждого фиксируемого дифракционного рефлекса) и в постоянстве длины волны всех дифракционных лучей; его недостаток - в необходимости монокристального образца исследуемого вещества. [28]
Наиболее широко используется для определения структуры метод вращения кристалла. В этом методе используется монохроматическое рентгеновское излучение, а в качестве исследуемого образца - монокристалл. При вращении кристалла вокруг какой-либо оси рентгеновские лучи, направленные перпендикулярно к этой оси, в определенный момент оказываются по отношению к некоторым плоскостям кристалла в положении, при котором выполняется формула Вульфа - Брэгга, В этом случае возникает дифрагированный рентгеновский луч, который приводит к появлению пятна ( рефлекса) на цилиндрической фотопленке, ось которой совпадает с осью вращения кристалла. На фотопленке рефлексы располагаются по слоевым линиям, перпендикулярным оси вращения. Слоевая линия, проходящая через след от первичного пучка рентгеновских лучей, называется нулевой; расстояние между слоевыми линиями зависит от расстояния между идентичными рассеивающими центрами, расположенными вдоль оси вращения кристалла. [29]
Описать схему получения дифракционной картины по методу вращения, пользуясь обратной решеткой и сферой отражения, чрезвычайно просто. При вращении кристалла поворачивается и его обратная решетка. В тот момент, когда какой-либо узел последней пересекает сферу отражения, от центра сферы через точку пересечения D проходит отраженный луч, падающий затем на цилиндрическую пленку в некоторой точке N. После каждого поворота кристалла на 360 это событие повторяется. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5