Cтраница 3
![]() |
Схема рентгеновских камер в методе вращающегося кристалла. [31] |
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 33, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. [32]
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 26, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов % 2 и Хз и соответственно углов ф2 ( 7) и Фз ( г), в Двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. [33]
![]() |
Схема камеры вращения в методе вращающегося кристалла. [34] |
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения показана на рис. 6.2. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на вращающийся с постоянной скоростью кристалл перпендикулярно оси его вращения. [35]
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 26, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. Дифракционные лучи, возникающие в процессе изменения углов % 2 и хз и соответственно углов ps ( f /) и Фз ( 0, в двух других условиях Лауэ должны идти по образующим этой системы конусов. [36]
![]() |
Схема рентгеновских камер в методе вращающегося кристалла. [37] |
Простейшая схема прибора для получения рентгенограмм по методу вращения ( камера вращения) показана на рис. 33, а. Первичный пучок, вырезанный коллиматором, падает на кристалл перпендикулярно оси его вращения. Будем считать, что с осью вращения совмещена кристаллографическая ось X кристалла. [38]
![]() |
Рентгенограмма кварца, снятая на дифрактометре. [39] |
Основным методом исследования структуры хорошо ограниченного кристалла являются методы вращения, колебания и развертки слоевых линий. Полные рентгенограммы вращения позволяют определить для веществ со сравнительно небольшой элементарной ячейкой пространственную группу симметрии. [40]
В методе порошка, так же как в методе вращения, используется монохроматическое излучение. Но объектом исследования является не монокристалл, а поликристаллический образец. [41]
Классическими примерами прямых методов служат метод исключения Гаусса, методы вращения и отражения. [42]
Магнитную восприимчивость жидкости и газов можно также определить по методу вращения стандартного тела в неоднородном магнитном поле. Стандартное тело помещают в исследуемую жидкость. Величина действующей силы зависит от разности между удельными восприимчивостями тела и окружающей среды. В его установке стандартное тело в виде двух тонкостенных кварцевых шариков подвешивают на тонкой квар - цевой нити и помещают в сосуд с исследуемым газом, который находится в сильном неоднородном магнитном поле. Градуировку прибора проводят по газам с известной восприимчивостью. Сосуд с газом внутри нужно посеребрить, чтобы избежать погрешностей, связанных с электростатическими влияниями. Данный метод обладает очень высокой чувствительностью. Как правило, он применяется при невысоких температурах. [44]
Доказать, что при циклическом исключении внедиагональных элементов с использованием барьеров метод вращений сводится. [45]