Рентгеновский микроанализ

Cтраница 1

Рентгеновский микроанализ показал, что при испытаниях диалкилдитиофосфатов цинка в противозадирной области в пятне износа больше серы по сравнению с про-тивоизносной областью. По-видимому, сера образует небольшое количество FeS, как это наблюдается и для ди-фенилдисульфида. Однако механизм действия диалкилдитиофосфатов цинка все еще остается неясным. [1]

Растровые электронно-микроскопические снимки поверхности различных веществ. [2]

Рентгеновский микроанализ ( РМА) применяется для анализа характеристического рентгеновского излучения, возникающего при электронной бомбардировке образца. [3]

Рентгеновский микроанализ продуктов взаимодействия присадок с нагретой стальной проволокой позволил установить, что в одних случаях происходят превращения, приводящие к коррозии, а в других нет. Так, дилаурилфосфит вызывал интенсивную коррозию, а трикрезилфосфат - нет. Наибольший практический интерес представляет предотвращение коррозии нагретой стальной проволоки в присутствии хлорированного парафина в условиях растягивающих напряжений - за счет образования пленки смолообраз-ных продуктов, подобных полимерам трения. [4]

Метод рентгеновского микроанализа ( фотоэлектронной спектроскопии) основан на том же принципе, что и метод Оже-спектроскопии, только для этого метода выбивание электронов с нижних уровней достигается облучением поверхности не электронами, а жестким рентгеновским излучением. Этот метод обладает большей разрешающей способностью по энергиям вторичных электронов, и благодаря этому при помощи рентгеновского микроанализатора можно установить валентное состояние одного и того же элемента в различных поверхностных соединениях. [5]

Метод рентгеновского микроанализа позволяет легко определять распределение элементов и сегрегацию компонентов с шагом 1 мкм и может быть полезен для исследования таблеток, а также крупных частиц катализатора. Особенно ценно сочетание этого метода со сканирующей электронной микроскопией. [6]

Локальные поля напряжений, вызванные частицами алюмината иттрия в монокристалле иттрий-алюминиевого граната. Поляризованный свет. Увеличение х хЮО. [7]

Методом рентгеновского микроанализа было установлено, что при выращивании монокристаллов иттрий-алюминиевого граната механические частицы, как отмечалось выше, являются кристалликами алюмината иттрия. По характеру поля просветления была определена плоскость скольжения дислокаций, которая является плоскостью симметрии шестилепестковой розетки. [8]

С помощью рентгеновского микроанализа было исследовано содержание Р, Fe и О в пятнах износа на шарах четырехшариковой машины трения после определения противоизносных свойств диэтил -, дибутил - и ди - ( 2-этилгексил) - фосфита и после определения противо-задирных свойств диэтилфосфита. Наибольшее количество фосфора оказалось в пятнах износа после испытаний диэтилфосфита, меньше - после ди - ( 2-этилгексил) - фосфита, наименьшее - после дибутилфосфита. [9]

Чтобы уменьшить ошибки при использовании рентгеновского микроанализа, связанные с шероховатостью трущихся поверхно-стей после испытаний, исследовали очень маленькие участки - размером 150x150 мкм. При этом удавалось исследовать всю поверхность трения в области противоизносного действия присадок и по меньшей мере пять участков поверхности в области противоза-дирного действия. [10]

Основным компонентом этого слоя по данным рентгеновского микроанализа является германий, в котором растворены галлий и мышьяк. [11]

Микроструктура технически чистого железа, Х100. [12]

По характеру получаемой информации авторадиография близка к рентгеновскому микроанализу, превосходя последний по чувствительности и уступая в разрешающей способности. Возможность авторадиографического исследования распределения элемента определяется лишь наличием соответствующего изотопа и его свойствами. Метод принципиально прост, результаты, как правило, наглядны и однозначны. Эти достоинства оправдывают некоторые сложности. [13]

Волокна сапфира Тайно после термообработки при 1300 С в течение 100 ч в водороде в контакте с никелевой матрицей. а - поперечное сечение. б - реплика с поверхности механически извлеченного волокна. в - поверхность волокна ( изображение получено с помощью электронного зонда в проходящих электронах. [14]

В дополнение к наблюдениям поверхности стержней был сделан рентгеновский микроанализ на наклонных срезах границы раздела Ni - A 2O3 г после термообработки в водороде при 1300 и 1350 С. [15]

Страницы: 1 2 3 4