Cтраница 4
В самом деле, наиболее фундаментальным свойством лунных пород является их химический состав. Именно изучение состава позволяет характеризовать главные типы горных пород Луны. С этой точки зрения все лунные образцы можно разделить на три группы: 1) образцы относительно больших размеров, для анализа которых на основные элементы можно использовать обычные химические методы или рентгенофлуоресцентный метод; 2) более мелкие фрагменты пород, отдельные обломки, анализируемые разными методами, например нейтронно-активационным, и особенно методом рентгеновского микроанализа с так называемым дефокусиро-ванным пучком электронов; 3) обломки или шарики стекла, для анализа которых наиболее пригоден рентгеновский микроанализ. В грунте Луны-24 есть образцы всех трех типов, что заставило привлечь для их анализа разнообразные аналитические методы. Вот почему основным центром исследования лунного грунта выбран институт, в названии которого отражены обе науки, имеющие прямое отношение к исследованию этого уникального объекта. [46]
Остановимся на экспериментальных исследованиях, результаты которых свидетельствуют, казалось бы, об отсутствий диффузионной зоны в сплавах, подвергнутых селективному растворению. Мп [56]) методом рентгеновского микроанализа в их спектре не обнаружены линии, отвечающие составам, промежуточным между исходным и чистым электроположительным компонентом. Зафиксированы лишь, интенсивные линии меди и кадмия. [47]
Типичные примеры [37] различных составов окалины и примыкающего сплава приведены на фиг. На этих фигурах представлены распределения элементов примесей по толщине окалины и подложки аустенитной нержавеющей стали, содержащей 18 % Cr i 9 % №, после окисления в течение 18 ч на воздухе при температуре 1200 С. При этой температуре защитная окалина разрушается и наблюдаются разные формы катастрофического окисления; приведенные распределения относятся к сохранившейся части защитной окалины, которая состоит главным образом из окиси хрома. Зги распределения получены с помощью рентгеновского микроанализа. Так как анализ легких элементов затруднителен, то распределение кислорода здесь не приводится; его содержание в любой точке можно установить по разности между 100 % и суммой процентного содержания других элементов в этой точке. Однако данный метод не позволяет установить природу соединений, например с его помощью нельзя выяснить, присутствует ли Si в форме кремнезема или силикатов; это следует определять другими способами. [48]
Блочная граница в условиях повышенного содержания избыточных компонентов и примесей, как уже отмечалось, не зарастает по той причине, что становится стоком для примесей. Если содержание примесей на границе блоков достаточно высокое, то после охлаждения монокристалл может развалиться по этой границе. Тогда возникает возможность прямого анализа вещества, находящегося на поверхности границы блока. Исследование химического состава границы, выполненное на примере иттрий-алюминиевого граната методом рентгеновского микроанализа, подтвердило, что основным компонентом, образующимся на границе блоков, является алюминат иттрия. Этот экспериментальный результат еще раз доказал, что границы являются местами скопления примесей. [49]
Нагрузку повышали ступенчато при режиме: 15 с испытания, 15 с остановки машины. Эти опыты показали, что на появление задира влияла не столько температура, сколько нагрузка, разрушающая сульфид железа, образованный при взаимодействии дибензилди-сульфида со сталью. При испытаниях с шарами и штифтами из различных сталей ( включая нержавеющую) и при определениях ( рентгеновским микроанализом) химических элементов в следах трения было показано, что присадки обеспечивают эффективное противозадирное действие только при химическом взаимодействии с металлом. [50]
Для изучения поверхности электродов и явлений адсорбции используют оптические методы. Часть этих методов предназначена для исследования поверхностного слоя электродов, погруженных в раствор электролита и включенных в электрохимическую цепь. Таким образом получается информация о состоянии границы раздела фаз при заданном составе раствора и заданном потенциале электрода. К этим методам относятся эллипсометрический метод, а также методы обычного зеркального и неполного внутреннего отражения. Другая часть оптических методов изучения поверхности электродов требует удаления их из раствора, просушки и последующего исследования в глубоком вакууме. К этим методам относятся дифракция медленных электронов, Оже-спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия ( рентгеновский микроанализ), сканирующая электронная микроскопия и некоторые другие методы. [51]