Рентгеновский микроанализ - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Любить водку, халяву, революции и быть мудаком - этого еще не достаточно, чтобы называться русским. Законы Мерфи (еще...)

Рентгеновский микроанализ

Cтраница 3


В 1925 г. при раскопках нашли чернильницу с плотно заткнутой пробкой, ло детальный анализ состава смогли сделать только недавно. С помощью электронной микроскопии рентгеновского микроанализа и других методов был установлено, что осадок представлял собой не костную, а древесную сажу, продукты коррозии бронзы, смолистые вещества и песок. Предполагается, что чернила изготавливались в сухом виде, а песок употреблялся при растирании сухого концентрата с водой.  [31]

Такое представление соответствует известным данным о наибольшей противозадирной эффективности неорганических фосфорсодержащих слоев в зонах высоких контактных нагрузок. Это подтверждается упомянутыми выше результатами рентгеновского микроанализа, установившими большие количества фосфора в пятнах износа после испытаний диэтилфосфита на четырехшарико-вой машине.  [32]

Например, в то время как рентгеновский микроанализ показал, что большее количество серы находится в пятнах износа при испытании дибензил - и дибутилсульфида в области противозадирного действия, а также выяснил, как распределена сера по поверхности металла, рентгеновская дифрактометрия позволила установить, что эта сера находится в виде FeS. Оптическая микроскопия и определение микротвердости показали, что FeS представляет собой мягкий рыхлый слой, который не только защищает поверхности от задира и сваривания, но и предотвращает структурные изменения металла ( образование очень твердого белого слоя) под трущейся поверхностью. Толщина пленки, ее рыхлый характер и различия в состоянии пятен износа ( при испытании дибензил-и дибутилдисульфида, с одной стороны, и дифенилди-сульфида и диалкилдитиофосфатов цинка - с другой) хорошо выявлены с помощью сканирующей электронной микроскопии.  [33]

Давно выпускаются газоанализаторы, особенно для контроля содержания метана в шахтах, но также и для других целей. Налаживается широкое производство хороших приборов для рентгенофлуоресцентного анализа и рентгеновского микроанализа. Есть вполне современные приборы для электрохимических методов анализа.  [34]

Можно, видимо, лишь предполагать, что трикрезил-фосфат обеспечивал противозадирное и противоизносное действие за счет образования им защитных пленок на трущихся поверхностях, тогда как присадки, содержащие серу и хлор, при взаимодействии с металлами образовывали легко истираемые пленки, что создавало противозадирный эффект, но повышало износ. Такая интерпретация подтверждается приведенными в рассматриваемой работе [34] данными рентгеновского микроанализа о наличии фосфора в пятне износа после испытаний трикрезилфосфата и об отсутствии серы и хлора в пятнах износа после испытаний соответствующих эфиров, а также обнаруженными признаками интенсивного износа ( глубокие борозды) на шарах после испытаний эфиров, в отличие от состояния шаров после испытаний трикрезилфосфата.  [35]

Количества доставленного на Землю лунного материала были относительно небольшими, и перед химиками-аналитиками встала задача: получить подробную информацию о составе пород, пользуясь весьма малыми навесками. В Институте геохимии и аналитической химии АН СССР для решения задачи были привлечены различные методы: рентгеновский микроанализ с дефокусирован-ным пучком электронов, радиоактивационный, масс-спектральный, эмиссионный спектральный анализ и некоторые другие. В результате было определено содержание основных породообразующих элементов и большого числа микроэлементов, в том числе редких.  [36]

Наряду с физическими методами измерения параметров в последнее время все большее значение приобретают физико-аналитические методы исследования и контроля. К ним относятся: вторичная ионная масс-спектроскопия, электронная спектроскопия для химического анализа, электронная оже-спектроскопия, электронно-зондовый рентгеновский микроанализ и ряд цругих методов.  [37]

Анализ проводится с помощью методов оже-элсктронной спектроскопии, фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа, спектроскопии характеристических потерь онсргии, масс-спсктромстрии вторичных ионов, рамановского микроанализа, оптической микроскопии, профиломстрии.  [38]

Изучение микроструктуры и топографии поверхности может быгь дополнено выявлением неоднородностей химического характера, микрогетерогенности, наличия локальных электрических полей и другой информацией о поверхности твердого тела, представляющей несомненный интерес. Приемы и методы для подобных исследований весьма разнообразны. Следует прежде всего отметить рентгеновский микроанализ.  [39]

С помощью электронного микроскопа изучена структура расслаивающихся бариевоборосиликатных стекол. Установлено, что в центральной части области расслаивания стекла имеют сложную структуру за счет процессов вторичного расслаивания в отдельных фазах. Предложена схема строения стекла с многофазной структурой, подтвержденная данными рентгеновского микроанализа. Обсужден механизм формирования сложной многофазной структуры в бариевоборосиликатном стекле при его охлаждении из расплава.  [40]

Многослойники, создаваемые для использования в оптике, должны иметь высокое оптическое качество. Это означает, например, что поверхности зеркал не вносят вариаций интенсивности в отраженный пучок либо, в других случаях, что параллельный пучок после прохождения оптической системы остается параллельным. Среди таких применений следует назвать двухзеркаль-ные монохроматоры, рентгеновские микроскопы и телескопы, рентгеновский микроанализ, зеркала для управления пучками синхротронного излучения, а также любые применения, где требуется фокусировка.  [41]

42 Фрактография ( а п топография ( б промежуточного слоя из хромонпкелевого сплава, Х500.| Электронно-микроскопический снимок шлифа покрытия в У рентгеновском характеристическом излучении хрома. а - перпендикулярно, б - параллельно поверхности напыления. X 500. [42]

Фаз, являющихся результатом химического взаимодействия контактирующих материалов металлокерамического пакета, не обнаружено. Результаты электронно-микроскопического исследования коррелируют с данными рентгеноспектрального зондирования, согласно которым с учетом локальности рентгеновского микроанализа ( 1 мкм) можно допустить наличие взаимодействия контактирующих материалов лишь в тонких приграничных слоях.  [43]

В настоящем обзоре делается попытка всесторонне осветить современное состояние вопроса о роли поверхности раздела в уп-ругопластическом поведении композитов с металлической матрицей. Волокнистые композиты и композиты, изготовленные направленной кристаллизацией, рассматриваются с точки зрения очевидных различий в структуре и стабильности их поверхностей раздела. Как будет показано ниже, детали поведения поверхности раздела и ее роль стали проясняться с началом применения сканирующей электронной микроскопии, а также в результате эффективного использования электронной микроскопии на просвет и оптической металлографии совместно с рентгеновским микроанализом.  [44]

В самом деле, наиболее фундаментальным свойством лунных пород является их химический состав. Именно изучение состава позволяет характеризовать главные типы горных пород Луны. С этой точки зрения все лунные образцы можно разделить на три группы: 1) образцы относительно больших размеров, для анализа которых на основные элементы можно использовать обычные химические методы или рентгенофлуоресцентный метод; 2) более мелкие фрагменты пород, отдельные обломки, анализируемые разными методами, например нейтронно-активационным, и особенно методом рентгеновского микроанализа с так называемым дефокусиро-ванным пучком электронов; 3) обломки или шарики стекла, для анализа которых наиболее пригоден рентгеновский микроанализ. В грунте Луны-24 есть образцы всех трех типов, что заставило привлечь для их анализа разнообразные аналитические методы. Вот почему основным центром исследования лунного грунта выбран институт, в названии которого отражены обе науки, имеющие прямое отношение к исследованию этого уникального объекта.  [45]



Страницы:      1    2    3    4