Cтраница 2
АТОМНЫЙ ЗОНД - микроанализатор с пространственным разрешением порядка размера атома, представляющий собой полевой ионный микроскоп ( ионный проектор) в сочетании с масс-с. Полевой ионный микроскоп визуализирует поверхность проводящего кристалла с атомным разрешением. Далее выбранный для исследования атом ( или атомы) удаляется с поверхности, ионизуется за счет полевого испарения или десорбции полем, а затем направляется в масс-спектрометр для идентификации. [16]
Электронный микроскоп и микроанализатор ЭММА кроме задач, которые решаются с помощью электронного микроскопа, позволяет произвести рентгеновский анализ исследуемого вещества по всем элементам, начиная от магния и кончая ураном. В электронном микроскопе и микроанализаторе могут использоваться приставки ПРОН-2 и держатель объекта ДО-2. Электронный микроскоп и микроанализатор ЭММА имеют без приставок предельное разрешение 7 А; вместе с устройством рентгеновского микроанялизатора предельное разрешение 5 им. [17]
Более детальное описание разработанного микроанализатора составляет предмет специальной статьи. Здесь мы отметим, что выбранная схема и конструкция микроанализатора удовлетворяют основным требованиям для проведения локального количественного анализа: получение высокой контрастности ( до 5000) и достаточной интенсивности флуоресцентного спектра ( - 103 имп / сек) от микрограммовых количеств вещества. [18]
В созданных позднее растровых микроанализаторах электронный зонд обегает заданную площадь поверхности анализируемого образца и позволяет наблюдать на экране телевизора увеличенную ( в десятки раз) картину распределения химич. Известны как вакуумные ( для мягкой области спектра), так и невакуумные варианты таких приборов. С его помощью с успехом анализируют фазовый состав легированных сплавов и исследуют степень их однородности, изучают распределения легирующих добавок в сплавах и их перераспределение в процессе старения, деформации или термообработки, исследуют процесс диффузии и структуры диффузионных и др. промежуточных слоев, изучают процессы, сопровождающие обработку и пайку жаропрочных сплавов, а также исследуют немета л лич. В последнем случае на поверхности шлифов предварительно напыляют тонкий слой ( 50 - 100 А) алюминия, бериллия или углерода. [20]
Перед установкой образцов в микроанализатор необходимо провести предварительные исследования образца другими методами, позволяющими получить дополнительную информацию о строении образца. [21]
Растровый электронный микроскоп и микроанализатор позволяет: фотографировать изображения поверхности объекта с экрана кинескопа и светового микроскопа; проводить визуальный осмотр исследуемого участка с помощью зеркального. [22]
Давление в рабочей камере микроанализатора составляет 10 - 5 - 10 - 8 Па. Регистрацию вторичных ионов проводят с помощью вторично-электронного умножителя, микроканальной пластины и ионно-электронного преобразователя, снабженного сцинтиллятором и фотоэлектронным умножителем. Управление работой отдельных блоков микроанализатора и обработку получаемой информации проводят с помощью ЭВМ. [23]
Результаты, полученные на микроанализаторе, подтверждаются также и данными распределения микротвердости: при равной макротвердости ( HRC) колебания микротвердости стали непрерывной разливки находятся в более узких пределах, чем колебания микротвердости стали, разлитой в изложницы. [24]
![]() |
Кривая разделения смеси С2Н6 - С4Н ] 0 - Н30. [25] |
После этого газ поступает в микроанализатор. Соединение и разъединение частей прибора производят при помощи сильфонных кранов. [26]
![]() |
Схема флуоресцентного микроанализатора. [27] |
Объектная камера объединяет основные уллы микроанализатора: электронно-оптическую и вакуумную системы, рентгеновские спектрометры, оптический микроскоп. В камере расположен объектный столик, блок мишеней, осветители, отклоняющие электроды для снижения доли рассеянных электронов в зоне спектральных каналов. Каждый механизм смонтирован на отдельных плато, которые крепятся и вакуумно уплотняются на корпусе камеры. На объектном столике размещается несколько образцов с общей площадью до 30 X 30мм или стандартный минералогический шлиф, а также эталонные образцы. Система микрометрических подач обеспечивает перемещение образцов под зондом вручную или автоматически с заданной скоростью. [28]
![]() |
Концентрационные кривые распределения элементов в f - фазе метеорита Чебанкол. [29] |
В последнее время подавляющее большинство микроанализаторов создаются растровыми и представляют собой сложные электронно-оптические установки, стоимость которых в два-три раза превышает стоимость лучших электронных микроскопов. Сложность и дороговизна микроанализаторов являются серьезной преградой для их широкого распространения и применения во многих исследовательских и заводских лабораториях. Поэтому большое значение приобретает сейчас создание аппаратуры для микроанализа, достаточно простой и дешевой при изготовлении и надежной в работе. [30]