Микроанализатор

Cтраница 4

Порошок исследуемого материала с помощью специального синтетического клея закрепляется на предметном столике микроанализатора. На поверхность порошка в вакууме напыляют тонкий ( толщиной до 10 - 8 м) электропроводящий слой металла, обычно золота. [46]

Исследуемый образец в виде металлографического или минералогического аншлифа помещают в вакуумную объектную камеру микроанализатора. В процессе анализа образец наблюдается в оптический микроскоп и может перемещаться с помощью микроподач без нарушения вакуума. Таким образом осуществляется выбор и анализ строго фиксированной точки на поверхности шлифа. Специальная электронно-оптическая система, состоящая из электронной пушки и электромагнитных линз, создает сфокусированный на образце электронный пучок диаметром около 1 мк. Электроны с энергией до 50 кэв возбуждают атомы вещества в объеме в несколько кубических микрон и вызывают рентгеновское излучение. Излучение разлагается в спектр на рентгеновских спектрометрах с изогнутыми монокристаллами. Интенсивность спектральных линий измеряется счетчиками Гейгера, сцинтилляционными ( в коротковолновой области длин волн) и пропорциональными проточными счетчиками ( в длинноволновой области) с соответствующими радиотехническими блоками для регистрации импульсов и записи интенсивности на самопишущем потенциометре. [47]

Профили распределения легирующей примеси в слоях n - i - p a - Si. Н, полученные с помощью ионного микроанализатора. [48]

Профили распределения фосфора и бора, представленные на рис. 5.3.2, получены с помощью ионного микроанализатора. [49]

Профили распределения легирующей примеси в слоях n - i - p a - Si. Н, полученные с помощью ионного микроанализатора. [50]

Профили распределения фосфора и бора, представленные на рис. 5.3.2, получены с помощью ионного микроанализатора. Было найдено, что наличие атомов бора в / - слое увеличивает длину дрейфа фотосгенерированных дырок и что наибольшая эффективность преобразования в солнечном элементе со структурой ( ЖО / н - / - р / Нерж. [51]

Микротвердость ( а, кривые смещения интерференционных максимумов ( б, параметры решетки ( в, г, д, результаты микрорент. [52]

На обогащение наружных слоев металла алюминием и кремнием указывают также результаты, полученные на микроанализаторе Сатеса ( рис. 25), которые объясняют характер изменения периодов кристаллической решетки. Известно, что алюминий ( в отличие от кремния) может в больших количествах растворяться в а-титане, уменьшая при этом периоды а и с его кристаллической решетки. [53]

Термограммы а - а - AsjS, б - ( - iAs2S3, в. [54]

Образец, полученный при 65 кбар и 450 из аурипиг-мента, был просмотрен на электронно-зондйвом микроанализаторе. [55]

Рентгеновский микроанализатор Кастена и Генье. [56]

Необходимо заметить, что требования, которым должны удовлетворять электрические устройства и источники питания, обслуживающие микроанализатор, существенно более строгие, чем аналогичные же требования для ранее рассмотренного обычного рентгеновского спектрографа. [57]

Дополнительная проверка распределения азота, углерода и кислорода по глубине азотированного слоя, проведенная с использованием микроанализатора ХМА-5В, показала, что уменьшение содержания азота в карбонитридной фазе связано с повышением концентрации в ней углерода и кислорода ( рис. 78), По-видимому, такой характер распределения азота и углерода всегда имеет место при газовом азотировании конструкционных сталей. [58]

При проведении экспериментов необходимо определять качество, пократия по профилю концентрации напыляемого вещества, определяемому на микроанализаторе и затем, по мере накопления повреждений оценивать остаточную площадь покрытия. [59]

Страницы: 1 2 3 4