Микродифракция
Cтраница 2
Дает возможность получать микродифракцию с участка размером до 20 нм. Вместе с приставкой ASID - 4D может работать и как сканирующий, при этом достигается более высокое разрешение, чем у предыдущего микроскопа: в растрово-просвечивающем режиме 0 15 нм и в режиме вторичной электронной эмиссии 3 нм. [16]
С, а картины микродифракции были получены при ещ. [17]
Исследование, проведенное методом микродифракции электронов, показало, что наращенный углерод имеет структуру алмаза. [18]
 |
Ход лучей при кродифракции. [19] |
Иначе осуществляется в электронном микроскопе микродифракция с ограниченных по площади участков объекта. Первый связан с использованием создаваемого при помощи двойного конденсора узкого электронного зонда ( диаметром - 1 [ л), который в плоскости объекта фокусируется на заданном участке, так что весь дифракционный спектр отвечает этому участку. Одним из существенных недостатков этого способа является то, что для получения достаточной интенсивности дифракционного спектра участок объекта необходимо подвергать сильному электронному облучению, при этом нередко наблюдается плавление кристаллов. Небольшое первичное дифракционное изображение объекта, получающееся в задней фокальной плоскости объектива, увеличивается при помощи слабой промежуточной линзы, которая при переходе к режиму работы на микродифракцию фокусируется на фокальную плоскость объектива. Увеличенное промежуточной линзой ди ( ракционное изображение служит объектом для второй проекционной линзы, которая на конечном экране или фотопластинке дает увеличенную дифракционную картину объекта. [20]
 |
Фторсмектит и его трансформационное преобразование. [21] |
Сочетание методов дифракционного контраста и микродифракции электронов позволило получить некоторые новые данные о механизме формирования фторамфиболов, и в частности показать, что эта фаза может образовываться не только в процессе реакций кристаллизации из расплава и газовой среды, но и в результате трансформационных преобразований слоистого силиката. На рис. 46, а представлена точечная электрограмма, которая содержит две наложенные дифракционные картины. Одна из них представлена гексагональной сеткой сильных рефлексов и относится к слоистому силикату - фторсмектиту. [22]
 |
Фторсмектит и его трансформационное преобразование. [23] |
Сочетание методов дифракционного контраста и микродифракции электронов позволило получить некоторые новые данные о механизме формирования фторамфиболов, и в частности показать, что эта фаза может образовываться не только в процессе реакций кристаллизации из расплава и газовой среды, но и в результате трансформационных преобразований слоистого силиката. На рис. 46, а представлена точечная электрограмма, которая содержит две наложенные дифракционные картины. Одна из них представлена гексагональной сеткой сильных рефлексов и относится к слоистому силикату - фторсмектиту. [24]
Исследования, проведенные с помощью микродифракции для полиэтилена или нейлона [72], показали, что кристаллографические оси решетки расположены преимущественно в направлении радиусов сферолитов, а цепи молекул ориентированы в основном перпендикулярно радиальному направлению фибрилл. Отсюда следует, что механизм присоединения цепочек молекул парафина к растущим фибриллам такой же, как и при росте плоскостей ромбовидных граней нормальных кристаллов парафина. [25]
Время экспонирования микроскопического изображения и картины микродифракции обычно составляет несколько секунд. [26]
Не вдаваясь в теоретические особенности метода микродифракции, еле дует остановиться на некоторых подробностях, связанных с его практическим применением. [27]
На рис. 70, а-в показаны картины микродифракции сплава с 23 % Мл открытой выплавки. [28]
В настоящее время на основании данных рентгеновской и микродифракции, кроме серпентина с однослойной элементарной ячейкой, обнаружен серпентин с шестислойной ячейкой. Эта структура была изучена Бриндли и Кноррингом ( Brindley, Кпог-ring, 1954), которые рассматривали эту разновидность серпентина как орто-антигорит. В дальнейшем с помощью электронной дифракции Зуссман и Бриндли ( Zussman, Brindley, 1957) показали, что этот минерал лучше описывается как орто-серпентин. [29]
Таким образом, на основании данных рентгеновской дифракции, микродифракции, электронномикроскопического исследования морфологии хризотила установлено, что минерал имеет слоистую структуру с искривленными, закрученными слоями. В большинстве случаев закручивание бывает полное, и образуются трубки с внутренним диаметром около 110 и внешним до 260 А. Так как поперечное сечение пакета хризотила равно 7.2 А, то, следовательно, в трубку должно быть свернуто не более 10 слоев. Свободный изгиб слоя имеет радиус кривизны около 88 А. Для каждого последующего слоя, нарастающего на трубку, изгиб пакета становится все меньше и меньше. Кремнекислородный слой растягивается, и, наконец, наступает такой момент, когда изогнутый хризотиловый пакет, чтобы нарасти на уже готовую трубку, должен настолько исказиться, что это искажение пакета делает образование новой трубки энергетически более выгодным. [30]
Страницы: 1 2 3 4