Растровый микроскоп

Cтраница 1

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность металла, однако разрешающая способность его ( 25 - 30 им) меньше, чем просвечивающего электронного микроскопа. [1]

Микростроение внутризеренного вязкого излома, X 1000. [2]

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность металла, однако он имеет меньшую разрешающую способность ( 25 - 30 нм), чем просвечивающий электронный микросноп. [3]

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность металла, однако разрешающая способность его ( 25 - 30 нм) меньше, чем просвечивающего электронного микроскопа. [4]

Растровый микроскоп дал уникальную возможность увидеть всю поверхность клетки целиком и исследовать отдельные ее участки. Можно получить изображения отдельных микроворсинок, складок и пузырьков. Весьма важно, что замедленная киносъемка с помощью растрового электронного микроскопа позволяет проследить за временными изменениями поверхности клетки. [5]

Растровый микроскоп позволяет изучать непосредственно поверхность ( излом) металла, однако разрешающая способность его меньше ( 250 - 300 А), чем просвечивающего электронного микроскопа. [7]

Разрешение растрового микроскопа составляет примерно 500 А. [8]

В растровом микроскопе, работающем на отражение, Боуден, Мак-Ослани Смит [60-63] осуществили прямое наблюдение за медленным термическим разложением азида серебра и стифната свинца. На фото 41 приведена микрофотография частично разрушенного кристалла азида серебра. [9]

В электронном растровом микроскопе объект ( древесина, резец) ощупывается тонким электронным лучом с одновременным преобразованием результатов контакта в световое изображение на экране. [10]

Изменение глубины выдавливания стали после обработки в вакуумном агрегате. [11]

С помощью растрового микроскопа изучена структура поверхности, легированной хромом и никелем. Дополнительное легирование никелем при оптимальной температуре подложки способствует об - 1Е мм разованию плотной структуры. При пониженной температуре подложки образуется менее плотная поверхность. Подобный эффект объясняется недостаточной подвижностью атомов вдоль поверхности ( поверхностная диффузия) при пониженных температурах, вследствие чего не успевают залечиваться дефекты конденсации. [12]

Широкое применение растрового микроскопа в будущем не вызывает сомнений. [13]

Разрешение изображения в растровом микроскопе зависит от характеристики сигналов и от природы взаимодействия зонда с веществом. Улучшение разрешения идет по пути увеличения яркости источника, что позволяет уменьшить диаметр зонда, оставаясь в разумных пределах интенсивности, а также по пути фильтрации отраженных сигналов. Разрешение на отражение, полученное в современных растровых системах в режиме вторичных электронов, достигает 1 5 нм по точкам. [14]

Фотографии отдельных участков образцов промышленных электролитов. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5