Cтраница 2
Наконец, в последнее время создан так называемый ионный эмиссионный микроскоп, дающий еще большее увеличение. [16]
Трудность интерпретации картин газовой адсорбции, полученных при помощи эмиссионного микроскопа, известна давно, и в сущности она состоит в выяснении причины различных изменений работы выхода, наблюдаемых для различных участков поверхности. Брок считает ( статья 48), что эти различия обусловлены избирательной хемосорбцией, приводящей к более высоким концентрациям газа на некоторых участках поверхности по сравнению с остальными. [17]
![]() |
Порошковые фигуры на поверхности кремнистого железа. [18] |
В описываемом методе для обнаружения доменной структуры использован метод эмиссионного микроскопа. [19]
При изучении адсорбции С2Н6, С2Н4 и С2Н2 [13] на чистой поверхности иридия с помощью эмиссионного микроскопа было обнаружено характерное изменение работы выхода электронов. При нагревании поверхности проявлялись дальнейшие изменения, зависящие от времени и температуры. С помощью метода флэш-десорбции было показано, что изменение работы выхода при нагревании происходит в результате десорбции и что десорбирующиеся продукты состоят главным образом из водорода. [20]
В отличие от рис. 1 яркая полоска карбида титана между титаном и сталью 45 на экране эмиссионного микроскопа выглядит сплошной и более широкой. На электроннограмме от поверхностей биметалла, разрушенного по переходной зоне, имеется больше линий карбида титана TiC, они более интенсивны, чем в случае биметалла титан-железо, а на электроннограмме поверхностей разрушения отожженного биметалла рефлексы состоят из отдельных пятен, что свидетельствует об укрупнении кристалликов карбида титана. [21]
![]() |
К вычислению разрешаемого расстояния при переносе изображения в однородном электрическом поле. [22] |
Из этого следует, что, во-первых, для ЭОП приемлема гораздо меньшая разрешающая способность, чем для эмиссионного микроскопа, и, во-вторых, что в ЭОП имеют значение аберрации косых пучков лучей, например, астигматизм. [23]
Упоминавшиеся электронномикроскопические наблюдения в значительной мере согласуются с результатами работы Дуелла и Мосса [27], изучавших коалесценцию серебра на вольфраме в эмиссионном микроскопе. У них процесс протекал сложнее, так как взаимодействующие зародыши образовывались на разных кристаллографических плоскостях вольфрамового острия, а наличие между ними участков трудного роста без зародышей мешало коалесценции. [24]
Мне было очень интересно узнать, что доктору Кнору удалось применить представления о выступающих атомных орбиталях для объяснения картин, возникающих в эмиссионном микроскопе. Тем не менее, необходима некоторая осторожность в использовании самоперекрывания соседних орбит для объяснения отсутствия способности к изображению в ионном проекторе, поскольку перекрывание возможно только между орбиталя-ми, имеющими одинаковую симметрию. [25]
![]() |
Последовательные снимки автоэлектронной эмиссии при адсорбции кислорода на том же вольфрамовом острие, что и в опытах. [26] |
Можно ожидать, что вещество, которое связано более слабо, чем хемосорбированный азот, дает относительно меньший вклад в инкремент работы выхода и, следовательно, такое вещество труднее обнаружить на картинах, получаемых в автоэлектронном эмиссионном микроскопе. Все же слабо связанное с поверхностью вещество, если преимущественно оно адсорбируется, может замедлять хемосорбцию азота на участках, где концентрация этого слабо связанного вещества высока. [27]
![]() |
Разрез колонны. [28] |
Сверхсветовая разрешающая сила была, однако, достигнута только в недавнее время. Первые эмиссионные микроскопы, появившиеся в 1933 - 1934 гг., позволили получить ряд интересных результатов в области исследования катодов, хотя их увеличение не превышало нескольких сотен, а иногда и десятков раз. [29]
Эмиссионный электронный микроскоп дает изображение объекта в электронах, которые эмиттирует сам объект. Разрешение эмиссионных микроскопов значительно хуже просвечивающих и в зависимости от типа эмиссии достигает 20 - 100 мкм. [30]