Cтраница 4
Авторам представляется, что, когда в прошлом делались специальные усилия для более тщательного приготовления и более точного определения изучаемых поверхностей, всегда получались существенные результаты. Специальные усилия Бика и его сотрудников были направлены на приготовление и определение структуры металлических пленок. В недавно выполненных при помощи эмиссионного микроскопа исследованиях также подчеркивалась важность обезгаживания поверхности и идентификации экспонируемой кристаллической грани. [46]
Даже из этого единственного частного примера ясно, что электронный проектор и флэш-десорбция существенным образом дополняют друг друга. Электронный проектор при соответствующем проведении опытов может дать подробные сведения о распределении адсорбированного вещества по поверхности и о скорости процессов на атомарном уровне, происходящих в самом адсорбированном слое. Необходимые для этих наблюдений поля таковы, что, по-видимому, не могут создать серьезных препятствий. С другой стороны, флэш-десорбция дает прямые сведения о кинетике молекулярного переноса между газовой фазой и поверхностью. Эти данные не только чрезвычайно важны для понимания кинетики гетерогенных реакций, но и позволяют легко сделать подробные выводы об энергетике связывания газа поверхностью. Без данных по автоэлектронной эмиссии трудно связать эту информацию со структурой и свойствами поверхностного слоя. И наоборот, без сведений, получаемых из макроскопических измерений, трудно однозначно установить природу кинетических процессов, ответственных за изменения, которые наблюдаются в эмиссионном микроскопе. [47]