Сканирующий микроскоп

Cтраница 1

Сканирующий микроскоп ( рис. V-1) состоит из оптической системы, источника света и светоприемника. [1]

Преимуществом сканирующих микроскопов при изучении поверхностей является то обстоятельство, что благодаря значительной глубине резкости ( в несколько сот раз выше, чем у обычных микроскопов) удается достигнуть четкого изображения шероховатых и грубых поверхностей. В качестве примера на рис. III.3 ( см. вклейку) приведена фотография [260] поверхности биологического объекта, выполненная с помощью сканирующего микроскопа. [2]

В сканирующем микроскопе сферическая волна фокусируется на тестовую решетку. Свет, дифрагировавший на решетке, будет содержать три сферические волны ( см. рис. 2.4), частично накладывающиеся друг на друга. [3]

Конфигурация детектора, типичная для отражательного сканирующего микроскопа ( размер детектора таков, что полностью захватывает внутренний нулевой порядок. Кривые показывают влияние параметра когерентности 7 на ОПФ. [4]

Переходная характеристика сканирующего микроскопа получается при перемещении непрозрачной полуплоскости ( края ножа) в плоскости объекта. Особый интерес представляет значение импульсной ( или переходной) характеристики в случае, когда край ножа точно совмещен с центром сканирующего пятна. Сферическая волна, фокусируемая на этом крае, представляет собой набор плоских волн с различными углами падения. Часть плоских волн, попадающих на непрозрачную полуплоскость, поглощается. [5]

В отражающем сканирующем микроскопе площадь детектора в общем случае должна быть равна площади единичного круга. [6]

В туннельном сканирующем микроскопе система пьезокри-сталлов, управляемая компьютером, обеспечивает трехкоор-динатное перемещение металлич. Между ней и зондом прикладывают напряжение ок. В и регистрируют возникающий туннельный ток. Воспроизводимое на дисплее семейство кривых, отвечающих перемещениям зонда, является изображением эквипотенциальной пов-сти, поэтому атомы изображаются полусферами разл. [7]

Известен также ИК сканирующий микроскоп ГОИ со временем сканирования кадра 2 5 мин и температурным разрешением 1 С, линейное разрешение до 20 мкм. [8]

Преимуществом растровых или сканирующих микроскопов является возможность исследовать непосредственно поверхность излома без использования промежуточных реплик, высокая при-цельность и получение объемных изображений. Перспективным является также изучение с помощью сканирующих микроскопов предварительно травленой поверхности излома и особенно совмещение сканирующего микроскопа с микроанализатором. Сканирующие микроскопы обладают меньшей, чем просвечивающие микроскопы, разрешающей способностью и, как правило, меньшей контрастностью изображения. [9]

Исследование выполнено на сканирующем микроскопе ISM-3V. [10]

Разработанные в последнее время сканирующие микроскопы ближнего поля имеют разрешение до 0 01 Я. Это достигается за счет облучения объекта через микродиафрагму и регистрацией прошедшего света чувствительным фотодетектором. [11]

Разработанные в последнее время сканирующие микроскопы ближнего поля имеют разрешение до 0 01 А. Это достигается за счет облучения объекта через микродиафрагму и регистрацией прошедшего света чувствительным фотодетектором. [12]

Влияние термообработки до и после сварки на вязкость разрушения при П К сварных соединений сплавов Fe - 12N1 в сравнении с основным металлом, термообработанным на максимальную вязкость разрушения. [13]

Исследования микроструктуры с помощью электронного сканирующего микроскопа показали, что причиной низкой вязкости разрушения в зонах шва и термического влияния в сварных соединениях сплава Fe - 12Ni - 0 25Nb являются скопления атомов ниобия по границам дендритных ячеек. [14]

Упрощенная блок-схема сканирующего микроскопа. [15]

Страницы: 1 2 3 4