Сканирующий микроскоп

Cтраница 3

Для уточнения полученных данных и количественной оценки химического состава связки проведено детальное рентгеноспектральное исследование на электронном сканирующем микроскопе TSM-V3. На рис. 41 6 при увеличении ( ХЮОО) в поглощенных электронах видны крупные нерастворенные зерна карбида вольфрама, расположенные в матрице из стали 18ХН2МФЛ с большими участками карбидной эвтектики. На рис. 41, в при 1000-кратном увеличении в поглощенных электронах представлен участок того же шлифа на границе между карбидом вольфрама и металлосвязкой. Из рисунка видно, что зерна карбида вольфрама окаймлены карбидной ф-азой, образующей эвтектику со стальной матрицей. [31]

В случае мгновенного зародышеобразования, как только система попадает в реакционные условия, вся внешняя поверхность образца покрывается большим количеством кристаллов, часто неразличимых даже в электронный сканирующий микроскоп, образуя рыхлый слой продукта реакции. Иногда этот слой оказывается аморфным, как в рассмотренных нами примерах дегидратации некоторых кристаллогидратов. Кристаллизация аморфного слоя может последовать на более поздних стадиях реакции. Более подробно мы рассмотрим зародышеобразование при формировании на поверхности тонких защитных пленок. [32]

Поверхность зерен порошка, если они являются монокристаллическими, можно исследовать с помощью оптического или электронного сканирующего микроскопа. Сканирующий микроскоп имеет существенно меньшее разрешение, чем классический электронный микроскоп, однако техника реплик, применяемая в последнем случае, малоэффективна для порошков, чаще даже невозможна. Кроме того, поверхности зерен имеют случайную природу и нет возможности ее улучшить. Обычно эти поверхности ориентированы произвольно, хотя возможны случаи, когда одна из граней с определенным индексом встречается чаще, чем другие, и лучше развита. [33]

Так же как и в классическом оптическом микроскопе, случай Y 0 называется когерентным, а у - - о - полностью некогерентным. Для сканирующих микроскопов типично значение у 1, что соответствует частично когерентному случаю. [34]

Снижение среднего размера пор после ФГ целлюлозы осины до потери массы 0 6 %, по мнению авторов [60], вызвано образованием микротрещин, которые открывают поры в клеточной оболочке, возникшие при химической обработке. Под сканирующим микроскопом наблюдается фибрилляция волокон, вызванная ФГ. Предполагается, что ксилан, покрывающий микрофибриллы целлюлозы, гидролизуется в большей степени, чем это можно обнаружить по количеству растворившихся при ФГ ксилозы и оли-госахаридов ксиланового ряда. Возможно, что ксилан гидролизуется частично и притом остается в клеточной стенке волокна. Так как ксилан, окружающий микрофибриллы целлюлозы, определяет силы когезии между волокнами, то частичный гидролиз его влияет на бумагообразующие свойства целлюлозной массы. [35]

Эффективность обычной световой микроскопии ограничивается не только конечной разрешающей способностью, определяемой свойствами оптической системы, но и недостаточной контрастностью между интересующими исследователя объектами и окружающим фоном. В сканирующем микроскопе повышение контрастности может быть осуществлено как электронным увеличением контрастности, так и использованием невидимого для глаза излучения, например, ультрафиолетового. [36]

Конфигурация детектора, типичная для отражательного сканирующего микроскопа ( размер детектора таков, что полностью захватывает внутренний нулевой порядок. Кривые показывают влияние параметра когерентности 7 на ОПФ. [37]

Для оптической системы нужно определить пространственный эквивалент временного импульса; таким эквивалентом является очень маленькая, точечная диафрагма в плоскости объекта. Импульсная характеристика сканирующего микроскопа получается при перемещении этой маленькой диафрагмы в плоскости объекта ( плоскости диска), и временная зависимость тока детектора будет соответствовать распределению интенсивности в поперечном сечении сканирующего пятна. [38]

Зерна-агломераты можно легко разделить с помощью ультразвуковых аппаратов. Наблюдение в электронный сканирующий микроскоп позволяет получить кривую распределения частиц в порошке по их размерам. Желательно, чтобы распределение было настолько узким, насколько это возможно. Электронный сканирующий микроскоп, увеличение которого может достигать 40000, дает возможность наблюдать форму частиц и совершенство их поверхности. Сравнение удельной поверхности образцов, измеренной обычными методами и вычисленной на основе среднего размера частиц, позволяет оценить открытую пористость частиц. Эти измерения могут быть дополнены определением реальной плотности образцов. [39]

По своей сущности операция оптического сканирования представляет собой последовательное определение интенсивности светового потока в каждой точке препарата. Поэтому основными блоками сканирующего микроскопа являются: оптический микроскоп, устройство сканирования и устройство обработки информации. [40]

Преимуществом растровых или сканирующих микроскопов является возможность исследовать непосредственно поверхность излома без использования промежуточных реплик, высокая при-цельность и получение объемных изображений. Перспективным является также изучение с помощью сканирующих микроскопов предварительно травленой поверхности излома и особенно совмещение сканирующего микроскопа с микроанализатором. Сканирующие микроскопы обладают меньшей, чем просвечивающие микроскопы, разрешающей способностью и, как правило, меньшей контрастностью изображения. [41]

Существенному увеличению внутренней удельной поверхности пород в значительной степени способствует также структура крустификационного хлоритового цемента. Последний, по данным наблюдения под сканирующим микроскопом, имеет спутанно-чешуйчатое строение, отличается высокой степенью дисперсности и обладает массой тончайших субкапиллярных каналов, в которых остаточная вода, по-видимому, удерживается силой капиллярного давления. [42]

Отклонение трещины от границы раздела в мягкий материал при высоких скоростях трещины ( показаны мягкие половины образцов бимате-риала. [43]

При высоких скоростях трещины уа ус трещина снова ищет путь минимального сопротивления и поэтому распространяется в однородном полимере. На рис. 30 приведены полученные на сканирующем микроскопе фотографии поверхностей разрушения при распространении трещины по границе раздела сталь - эпоксидная смола. На рис. 30, а показано отклонение трещины от границы раздела. Грубая поверхность соответствует движению трещины с низкой скоростью и последующему отклонению от поверхности раздела. При дальнейшем распространении трещины в глубь полимера с увеличивающейся скоростью поверхность разрушения сглаживается. [44]

Методика приготовления пробы эмульсий для анализа сканирующим микроскопом ничем не отличается от методики, приведенной ранее. Необходимость отбора пробы и ее соответствующая обработка при анализе сканирующим микроскопом является существенным недостатком последнего, не позволяющим использовать его для дисперсионного анализа в реальном масштабе времени, а конструктивная сложность сканирующего микроскопа препятствует его использованию непосредственно в технологическом процессе. [45]

Страницы: 1 2 3 4