Cтраница 4
Частицы латексов имеют, как правило, сферическую форму. Отсутствие в исследуемых образцах вторичных агрегатов неправильной формы обычно контролируют с помощью электронно-микроскопических наблюдений. [46]
Действительно, имея кривую распределения размеров латексных частиц ( например, из электронно-микроскопических наблюдений), можно вычислить суммарную поверхность 1 г полимера в латексе. [47]
Взаимосвязь между электрокинетическим потенциалом и флокуляцией под действием полимера была изучена Рисом [315], который отметил, что, как только коллоидная частица покрывается слоем полимера, на ней появляется тот же самый заряд, что и на полимере, и начинает наблюдаться повторное диспергирование. Аналогичные исследования были выполнены Рисом и Мейерсом [316] с использованием микрофореза и электронно-микроскопических наблюдений модельных коллоидных частиц и полимерных флокулянтов. Агенты флокуляции полиаминного типа, по-видимому, распространяются от поверхности частицы на расстояние 20 - 300 А. Флокуляция происходит посредством двух одновременных процессов: нейтрализации заряда и образования мостиковой связи из полимерных цепочек между частицами. После этого избыточный полимер меняет потенциал на обратный, и происходит повторное диспергирование. [48]
Все результаты можно привести в соответствие, если предположить, что вклад вакансий в удельное электросопротивление меньше, а именно, что А 1 5 мком-см. Действительно, величина такого порядка была получена Коттериллом [16] в результате комбинации измерения электросопротивления и электронно-микроскопических наблюдений закаленного алюминия. [49]
![]() |
Структурные показатели и физико-механические свойства вискозных волокон. [50] |
Эта величина, хотя и является относительной вследствие проходящей при гидролизе рекристаллизации [103], однако сравнительно хорошо коррелирует с длиной больших периодов, определяемых рентгенографически при малых углах рассеяния и электронно-микроскопических наблюдений. Показатель кристалличности определен по Ант-Вуоре - ну [104] как отношение ширины пика рефлекса на фотометрической кривой к его высоте. [51]