Надежность - полупроводниковый прибор
Cтраница 2
Приведенный пример показывает возможность улучшения надежности полупроводниковых приборов. По мере проведения дальнейших работ будут, очевидно, найдены иные способы управления величиной ф5, помимо окисления. [16]
Надежность тиристорных преобразователей, определяемая надежностью полупроводниковых приборов выпрямителя, преобразователя, системы защиты ( достаточно сложной) снижается по мере увеличения числа полупроводниковых элементов. Поэтому на каком-то пороге мощности тиристорный преобразователь должен неизбежно уступить в надежности машинному. Маломощные тиристорные преобразователи невыгодны из-за необходимости иметь сложную схему защиты. Машинные преобразователи, изготовляемые по традиционной технологии серийного электромашиностроения из недефицитных распространенных материалов, должны быть самыми дешевыми. [17]
Наиболее удобными показателями для количественного выражения надежности полупроводниковых приборов являются вероятность безотказной работы Р в течение заданного интервала времени и интенсивность отказов К, под которой понимают отношение числа отказов приборов в единицу времени к числу исправно работающих пр-иборов. [18]
Наиболее удобными показателями для количественного выражения надежности полупроводниковых приборов являются вероятность безотказной работы Р в течение заданного интервала времени и интенсивность отказов К, под которой понимают отношение числа отказов п иборов в единицу времени к числу исправно работающих приборов. [19]
В сборнике приводятся материалы конференции по проблеме обеспечения надежности полупроводниковых приборов, которая состоялась в США в 1961 г. Основные разделы книги: методы анализа данных, способы уменьшения интенсивности отказов, инженерный подход к оценке требований на полупроводни-вые приборы, методы выборочного контроля, обеспечение надежности в новых технических условиях. [20]
Надежностью любого устройства называют обычно вероятность того, что оно в течение заданного интервала времени будет выполнять возложенные на него функции. Надежность полупроводникового прибора характеризуется временем и вероятностью безотказной работы в течение этого времени. Под отказом понимают всякое изменение параметров прибора, которое приводит к нарушению нормальной работы схемы, или выход этого параметра за установленные пределы. [21]
При эксплуатации прибора не допускается превышение напряжения на приборе по сравнению с предельно допустимым значением независимо от длительности импульса напряжения. Для увеличения надежности полупроводниковых приборов следует снижать рабочие напряжения на них. Уменьшение предельно допустимого напряжения до уровня 0 7 от предельного ведет к увеличению надежности в несколько раз. [22]
 |
Изменение прямого и обратного тока кремниевых выпрямительных диодов в зависимости от. [23] |
При оценке надежности полупроводниковых приборов, как, впрочем, и большей части других элементов, нужно иметь в виду, что данные о надежности по результатам эксплуатации или испытаний аппаратуры всегда поступают со значительным опозданием. [24]
Очевидно, что в них самопроизвольно протекает нежелательный процесс или процессы, т.е. химическая система, какой является прибор, не только не находилась в устойчивом состоянии, но и могла достаточно быстро изменяться. В теории; надежности полупроводниковых приборов подобные процессы называются дрейфом параметров прибора. [25]
Анализу схем предшествует подробное рассмотрение физических процессов в полупроводниковых диодах и транзисторах и их характеристик. Дана методика измерений, испытаний и оценка надежности полупроводниковых приборов. [26]
Переход на транзисторы в телевизора определяется не столько надежностью полупроводниковых приборов, сколько экономической целесообразностью. Надежность была доказана раньше на примерах работы ЭВМ. [27]
Итак, модели нагрузка - прочность позволяют установить связь физических характеристик приборов со статистическим распределением времени их безотказной работы. Построение таких моделей лежит в основе физико-статистического метода исследования надежности полупроводниковых приборов. Для осуществления его необходимо: иметь способы измерения прочности и распределения ее величины; установить закономерность изменения прочности во времени; иметь способы количественной оценки и измерения нагрузки различного вида; установить зависимость прочности от величины нагрузки и времени ее действия. [28]
Так как надежность электронной аппаратуры не может не зависеть от надежности входящих в нее элементов, то естественно, что вопрос надежности полупроводниковых приборов должен иметь весьма важное значение в полупроводниковой электронике. [29]
В то же время очевидно, что высказанные в статье положения и рекомендации могут быть использованы при исследовательских работах. Кроме того, публикация настоящей работы поможет лишний раз привлечь внимание инженерно-технической общественности к вопросу совершенствования методов контроля качества продукции, который становится все более актуальным по мере повышения надежности полупроводниковых приборов. [30]
Страницы: 1 2 3