Структурная амплитуда

Cтраница 2

Понятие структурной амплитуды было введено при обсуждении вопросов рассеяния конечной группой атомов ( молекулой или атомами элементарной ячейки) - до перехода к кристаллу в целом. По отношению к отдельной ячейке структурная амплитуда определяется как комплексная величина, модуль которой равен амплитуде луча ( выраженной в электронных единицах), а аргумент - начальной фазе этого луча. [16]

Формулы структурных амплитуд для проекции исследуемого кристалла могут быть получены как из симметрии проекции, так и из общей ( трехмерной) формулы соответствующей пространственной группы, если принять один из трех индексов равным нулю. Различия между симметрией проекции и структуры в целом часто оказываются довольно значительными. При проектировании могут возникать, например, центры инверсии, отсутствующие в трехмерной картине. Так, пространственная группа Р212121 нецентросимметрична, а все три ее проекции на координатные плоскости обладают центрами инверсии, так как оси второго порядка ( как поворотные, так и винтовые) при проектировании вдоль оси превращаются в центры инверсии. Соответственно этому и упрощение формул структурных амплитуд для проекций может состоять не только в исчезновении третьего аргумента, но в более глубоком преобразовании. [17]

Распределение структурных амплитуд является здесь функцией двух переменных. [18]

Кривые распределения структурных. [19]

Распределение структурных амплитуд нецентросимметричного и центросим-метричного кристаллов различается фундаментально, так как одно из них соответствует распределению случайных величин на плоскости, другое - на прямой. Другие элементы симметрии - плоскости и оси симметричности - не могут вызывать такого различия. [20]

Расчет структурных амплитуд отражений для заданной структуры является одной из основных и в то же время одной из самых трудоемких вычислительных задач, возникающих в процессе изучения атомного строения кристалла. [21]

Следовательно, структурная амплитуда определяется не только углом рассеяния но и расположением молекулы относительно направлении рентгеновских лучей. Эта двойная зависимость и выражена в компактной форме в функциональной связи F с параметрами 5, ть С. [22]

Вычисление значений структурных амплитуд, так же как и электронной плотности, заключается в сложении большого числа синусоид. На заре рентгеноструктурного ан-ализа были придуманы способы, позволяющие производить эти расчеты вручную. [23]

Анализируя вид структурной амплитуды для различных пространственных групп, нетрудно получить правила погасания для них, т.е. найти комбинации индексов, которым отвечает нулевое значение FfjhV а значит, и Jhkl - c другой стороны, анализ наблюдающихся систематических погасаний позволяет определить одну из 120 дифракционных групп. Проще всего определяется тип решетки, т.е. присутствие дополнительных трансляций. [24]

Приведены значения структурных амплитуд для пространственных групп, к которым принадлежат кристаллические решетки некоторых структурных типов кубической системы; Л - действительная, Б - мнимая части структурной амплитуды. [25]

Схема построения функции межатомных векторов для структуры, состоящей из трех атомов. [26]

Определение фаз структурных амплитуд прямыми методами осложняется при увеличении числа атомов в элементарной ячейке кристалла. Псевдосимметрия я нек-рые др. особенности его строения также ограничивают возможности прямых методов. [27]

Вид формулы структурной амплитуды зависит от выбора координатной системы: от наименования осей, их направлений по отношению к элементам симметрии и, наконец, от положения начала координат. Если даже ориентация координатной системы по отношению к элементам симметрии данной федоровской группы остается неизменной и производится лишь параллельное перемещение ее, вид формулы может измениться очень существенно. [28]

Если вычисление структурных амплитуд производится без применения каких-либо специальных приспособлений, ход расчета сводится к следующему. Для каждого отражения находится значение sin 8 / A и по кривым атомного рассеяния / ( sin & / A) значения атомных ампли - ТУД / i / 2 - - - нужных элементов. Далее подсчитываются значения hx, ky и lz и, если необходимо ( в зависимости от формулы структурной амплитуды), их суммы и разности. [29]

Графический метод расчета структурных амплитуд при помощи транспортира. Случай вещественной амплитуды. [30]

Страницы: 1 2 3 4