Структурная амплитуда - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Восемьдесят процентов водителей оценивают свое водительское мастерство выше среднего. Законы Мерфи (еще...)

Структурная амплитуда

Cтраница 3


Задачу определения структурных амплитуд, исходя из предполагаемых координат атомов, можно решать не только расчетным методом, но и экспериментально - путем моделирования процесса дифракции. Кристалл заменяется моделью предполагаемой структуры, а рентгеновские лучи - монохроматическим пучком света. Интенсивности дифрагируемых моделью лучей соответствуют структурным факторам F ( hkl) 2 рентгеновских лучей, отраженных кристаллом. Поэтому при помощи оптического прибора получают значения Г 2 только отражений экваториальных слоевых линий. В этом состоит ограничение данного метода.  [31]

Определение знаков структурных амплитуд начинается с выбора знаков, характеризующих положение начала координат в элементарной ячейке. Далее, при помощи метода структурных произведений, неравенств или статистического метода устанавливаются связи между структурными амплитудами небольшой группы самых сильных отражений, что дает возможность определить знаки некоторых из этих отражений. На основе полученной таким образом системы опорных знаков при помощи статистических связей выявляются знаки остальных структурных амплитуд.  [32]

Отрицательный знак структурной амплитуды означает противоположность фазы луча, отраженного кристаллом, и луча, исходящего из начала координат.  [33]

Для вычисления структурных амплитуд и уточнения структуры методом дифференциального синтеза полный комплект машин требуется во всех случаях, причем процедура их использования имеет довольно сложный характер и разбивается на несколько стадий.  [34]

Сходство формул структурной амплитуды и электронной плотности позволяет использовать специфические приемы вычисления электронной плотности и для нахождения структурных амплитуд.  [35]

36 Разложение сложной ячейки на ряд примитивных. [36]

При вычислениях структурной амплитуды или структурного множителя сложную ячейку рассматривают в виде некоторого числа примитивных ячеек, вставленных друг в друга.  [37]

Отрицательный знак структурной амплитуды означает противоположность фазы луча, отраженного кристаллом, и луча, исходящего из начала координат.  [38]

При рассмотрении структурной амплитуды элементарной группировки Fjf, кроме ее усреднения по ориентациям, нужно принять во внимание следующее обстоятельство. Перегибы молекул во многих местах - почти в каждом звене - не могут происходить без частичного искажения строения самих элементарных группировок в результате их взаимодействия. Это означает, что вследствие вращения вокруг одинарных связей, а также некоторого искажения валентных углов атомы отклоняются от своих идеальных положений, которые присущи элементарной группировке в неизогнутой молекуле. Аналогичные искажения могут возникать и в результате взаимодействия с соседними молекулами полимера.  [39]

Теперь выделим структурную амплитуду для кубической простой ( ПК), объемно-центрированной ( ОЦК) и гранецентриро-ванной ( ГЦК) решеток. Примем, что в одном узле содержится один атом.  [40]

Соотношения между структурными амплитудами, найденные для цен-тросимметричных кристаллов, можно разделить на две группы: а) алгебраические и б) статистические. Связи между амплитудами, выражаемые алгебраическими соотношениями, называют достоверными, а полученные на основании статистических соотношений-вероятными.  [41]

Понятно, что структурная амплитуда и в группе Р1 т и в группе Рттт является вещественной: начало координат совпадает с центром инверсии.  [42]

СТРУКТУРНЫЙ ФАКТОР ( структурная амплитуда) - величина, характеризующая способность одной элементарной ячейки кристалла когерентно рассеивать рентг.  [43]

Следовательно, если структурные амплитуды известны, то можно подсчитать электронную плотность в каждой точке элементарной ячейки.  [44]

В нек-рых случаях структурная амплитуда магнитного рассеяния оказывается близкой по абс. Тогда суммарная структурная амплитуда намагниченного кристалла близка к нулю для одной ориентации спина нейтрона и велика для другой; рассеиваются только нейтроны последней ориентации. Этим методом при отражении от плоскостей ( 220) монокристалла магнетита или от плоскостей ( Til) монокристалла сплава FeCo ( 10 % Со) получаются интенсивные пучки моно-энергетич.  [45]



Страницы:      1    2    3    4