Cтраница 4
Одновременно с изменением формы зерен в процессе деформации происходит поворот кристаллографических осей отдельных зерен в пространстве. По мере протекания пластической деформации разница в направлениях кристаллографических осей отдельных зерен уменьшается, а плоскости скольжения стремятся совместиться с направлением наиболее интенсивного течения металла. Это приводит к тому, что при значительной деформации возникает преимущественная ориентировка кристаллографических осей зерен поликристалла, называемая текстурой деформации. Возникновение текстуры приводит к анизотропии свойств поликристалла. [46]
Его начальная часть проводится полихроматическим методом. По лауэграммам определяется прежде всего сингония кристалла и направление кристаллографических осей; в этом отношении камера Лауэ заменяет собой оптический гониометр. Одновременно лауэграмма дает сведения о виде симметрии кристалла. Определение пространственной группы методом Лауэ представляет собой довольно трудоемкую процедуру и не является вполне надежным. [47]
Для хорошо ограненных кристаллов направление основных кристаллографических осей часто определяют по расположению ребер. Так, например, у кристаллов кубической формы направление внутренних кристаллографических осей [100], [010] и [001] совпадает с направлением трех взаимно перпендикулярных ребер. [48]
Для галлия характерна анизотропия свойств. Физические свойства галлия имеют различные значения в зависимости от направления кристаллографических осей. [49]
Кристаллическая решетка графита имеет явно выраженную слоистую структуру, отличающуюся легким перемещением Слоев друг относительно друга. Твердость графита не велика и изменяется в зависимости от направления относительно кристаллографических осей решетки в 5 раз с лишним. Графит обладает крупнокристаллическим строением, что отличает его от мелкокристаллических углей, в частности от сажи, которая имеет особо мелкодисперсионное кристаллическое строение. [50]
Кристаллическая решетка графита имеет явно выраженную слоистую структуру, отличающуюся легким перемещением слоев друг относительно друга. Твердость графита не велика и изменяется в зависимости от направления относительно кристаллографических осей решетки в 5 раз с лишним. Графит обладает крупнокристаллическим строением, что отличает его от мелкокристаллических углей, в частности от сажи, которая имеет особо мелкодисперсионное кристаллическое строение. [51]
Однако только в твердых телах ( при соответствующем выборе направлений главных кристаллографических осей и направлений распространения падающего и рассеянного света) могут быть измерены элементы тензора. В газах и жидкостях ориентация молекул по отношению к неподвижной системе координат совершенно неупорядочена, поэтому поляризационные свойства линий комбинированного рассеяния связаны со средними значениями тензора комбинационного рассеяния ( разд. Спектры КР могут быть измерены различными способами. Существует метод, в котором направление наблюдения перпендикулярно направлению распространения падающего лазерного луча; в другом методе оба направления параллельны, а спектры рассеяния наблюдаются в прямом и обратном направлениях. [52]
При исследовании плохо ограненного кристалла или вовсе неограненного кристаллического обломка применение наиболее удобных для решения структурных задач методов съемки - метода вращения и его разновидностей - непосредственно затруднено, поскольку любой из этих методов требует предварительной юстировки кристалла. В этом случае требуется предварительно определить ориентацию исследуемого кристалла - выявить направления кристаллографических осей в обломке. Задача эта особенно актуальна потому, что часто кристалл искусственно лишают огранки с тем, чтобы придать ему сферическую форму и тем самым уменьшить ошибки в измерении интенсивности отражений, связанные с поглощением лучей в кристалле. [53]
Существуют несколько способов исследования переориентации кристаллической решетки в ходе пластической деформации. При его реализации обычно используется поляризованный свет, что позволяет выявлять направление кристаллографических осей в соседних частях образца. Для непрозрачных кристаллов этот метод позволяет получить информацию о состоянии поверхности материала. [54]
На температурных кривых А / для кварцевых стержней, вырезанных в направлении кристаллографической оси с и перпендикулярно к ней, точка превращения выразилась в виде резкого скачка; на грубозернистом кварцевом песке было обнаружено то же явление превращения, р-кварц имеет положительный, а - кварц отрицательный температурный. [55]
В последнее время стало технически возможным проводить исследования отдельных кристаллов на растяжение или сжатие. При этом обнаружено, что механические свойства их изменяются в зависимости от направления кристаллографических осей. [56]
Наблюдения спектров ЭПР при различных углах ориентации монокристалла относительно направления внешнего магнитного поля позволили найти элементы тензора константы анизотропного взаимодействия. Из данных по расщеплениям в спектрах ЭПР при таких ориентациях кристалла, когда направления кристаллографических осей совпадают с направлением поля, удалось найти значения констант изотропной и анизотропной сверхтонкой структуры - А и В. [57]