Образец - кремний
Cтраница 2
Метод основан на облучении образца кремния тепловыми нейтронами в ядерном реакторе, химическом выделении определяемых элементов и измерении v-спектров полученных препаратов. [16]
Пусть градиент потенциала в образце кремния собственной проводимости составляет 400 В / м, а подвижности электронов и дырок равны 0 12 и 0 025 м2 / В-с соответственно. [17]
Рекомендуют [248] также после обработки образца кремния фтористоводородной кислотой концентрировать примеси на сульфате стронция. [18]
Такое положение является типичным для образцов кремния как р, так и п типа проводимости. [19]
Разработанный метод применен для анализа образцов кремния КДБ и КЭФ ( после химико-механической обработки), легированных фосфором из газовой фазы или пленкообразующих веществ. [20]
Допустим, что диффузионной обработке подвергается образец кремния электронной проводимости с удельным сопротивлением 4 2 ом см. При [ хи1325 см2 / в сек это соответствует постоянной концентрации донора Af, 1 1 1015 см-3. Пусть диффузия проводится при 1250 С в две стадии, а именно: сначала в течение 90 мин. [21]
Список определяемых элементов и результаты анализа образца кремния приведены в табл. 23, там же приведены данные по максимальной чувствительности метода. Как видно из этих данных, значения нижнего предела определения содержания примеси часто оказываются много выше чувствительности метода. Подобные колебания чувствительности определения очень типичны для - спектрометрического метода и являются следствием комптоновского эффекта и недостаточной разрешающей способности сцинтил-ляционных гамма-спектрометров. [22]
 |
Нагрузочные характеристики фотопреобразователей, полученных при энергии ионов 30 кэв. [23] |
Авторы настоящей работы проводили эксперименты с образцами кремния / 7-типа, имеющими удельное сопротивление 4 ом-см и время жизни 10 - 50 мксек. Бомбардируемая ионами поверхность была предварительно обработана до зеркального состояния. [24]
По-видимому, политропия примесей в исследованных сильно легированных образцах кремния связана, в основном, с наличием ячеистой субструктуры, которая не устраняется при термообработке. [25]
Типичным детектором для этого вида спектроскопии является образец кремния, допированный литием, в котором рентгеновские кванты создают количество электронно-дырочных пар, пропорциональное энергии этих квантов. Если, с другой стороны, детектор чувствителен к длине волны рентгеновских лучей, то такой метод естественно назвать рентгеновской спектроскопией с дисперсией по длине волны, или РСДДВ. [26]
 |
Декорирование дислокаций кремния при выделении меди вдоль линий дислокаций. Снимок сделан в проходящем ИК-свете ( Dash W. С., J. Appl. [27] |
Чтобы их можно было легко различить, образец кремния с очень малой плотностью дислокаций насыщают медью при повышенной температуре, а затем охлаждают, медь при этом выделяется на дислокациях. Образец исследуют микроскопически в проходящем инфракрасном свете и наблюдаемые темные линии идентифицируют как дислокации, так как медь в отличие от кремния не прозрачна для инфракрасного света. [28]
На рис. 11 показана кривая спектральной чувствительности образца кремния n - типа при 4 К. В этом случае область, в которой элемент сохраняет чувствительность, простирается почти до 40 мк, и значение Ki / 2 35 мк. [29]
Концентрации бора и фосфора измеряют при температуре образца кремния 20 К. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5