Обыскривание

Cтраница 4

Такая предварительная обработка электрода разрядом носит название обыскривапия, а время т называется временем обыскривания. Насколько необходимо всегда исключать время обыскриваиия из регистрации, сказать трудно. Если кривые обыскривания достаточно устойчивы, то, увеличив время регистрации включением интервала 0 - т, мы не уменьшим, а увеличим точность анализа. Однако в пользу исключения начального интервала времени говорит то, что при первичной обработке искрой поверхности электрода выгорают случайные загрязнения на нем, кроме того, свежая поверхность анализируемого электрода получена в результате механической обработки, в то время как поверхности эталонных электродов во время предыдущих анализов подвергались действию разряда. [46]

Приспособление для изготовления некоторых форм углеграфитовых электродов. [47]

Очистка электродов от случайных поверхностных загрязнений и следов материала режущего инструмента производится дуговым обжигом или обыскриванием. [48]

Приспособление для изготовления некоторых форм углеграфитовых электродов. [49]

Очистка электродов от случайных поверхностных загрязнений и следов материала режущего инструмента производится дуговым обжигом или обыскриванием. [50]

Кривые обыскривания.| Разрядные трубки для получения разряда в газе при пониженном давлении. а - трубка с внутренними электродами. [51]

Спектральный анализ следует проводить лишь после того, как окончились эти изменения, происходившие в период обыскривания. В некоторых случаях от этого правила приходится отступать, когда обыскривание длится слишком долго и приводит к значительному увеличению длительности анализа. [52]

Изоляционное кольцо из оксида алюминия, образующееся на поверхности пробы вокруг места обыскривания, содействует стабильности процесса обыскривания. Одно из преимуществ использования таких противоэлектродов состоит в их малой стоимости. [53]

Зависимость концентрации окислов титана в образцах титана, определенной масс-спектральным методом, от содержания кислорода, установленного методом вакуумного плавления. [54]

При проведении экспериментов с титаном удаление окислов с поверхности исследуемых электродов производилось травлением в HF, а хемосор-бированный кислород удалялся обыскриванием проб в течение 30 мин. [55]

Подобное явление имеет, например, место при определении циика в латунях в пределах концентрации 20 - 45 % при непродолжительном обыскривании. [56]

Централизованно выпускаемые монолитные СО аналитического сигнала диаметром 50 мм имеют рабочую высоту 40 мм; на поверхности образца размещается шесть пятен обыскривания, что при глубине заточки 0 15 мм позволяет при полном использовании одного экземпляра СО выполнить 1600 единичных измерений. Исходя из этого, для сводных расчетов принимают, что годовая потребность в СО аналитических сигналов для каждой контролируемой точки градуировочной характеристики оптического квантометра составляет три-четыре экземпляра. [57]

В случае дуги этот эффект памяти не проявляется: во-первых, потому что осажденный слой быстрее покрывается слоем материала новой пробы во время обыскривания, а главное, потому что ионы, образованные в дуговом разряде и имеющие меньшие начальные энергии, не способны распылять значительные количества атомов со стенок источника. [58]

Показанный на рис. 95, б искровой штатив FS 11 предназначен для крепления проб, например стержней или мелких деталей с плоской поверхностью обыскривания. Штатив обладает звукоизолирующим действием, защищает от ультрафиолетового излучения и от соприкосновения с деталями, находящимися под напряжением. [59]

При анализе металлов с применением искры в качестве источника света в первое время горения искры происходит образование на поверхности металла пленки окислов, которая получила название пятна обыскривания. Было высказано предположение, что дальнейшее поступление материала электродов происходит преимущественно из пленки окислов. Характер кривой обыскривания ( рис. 145) определяется большим или меньшим сродством с кислородом определяемого металла по сравнению с металлом основы. Подобные кривые изменения AS во времени наблюдаются и при работе с дуговым источником света. [60]

Страницы: 1 2 3 4